自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測探頭是磁(ci)(ci)場傳(chuan)感(gan)器的載體和組合，是漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測信(xin)號的收(shou)集器。隨著漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測應用的不斷(duan)深入和檢(jian)(jian)測要求的逐步提高，除了磁(ci)(ci)化問(wen)題，另(ling)一個核心就(jiu)是漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測探頭的設計。若(ruo)探頭性能不好或(huo)者(zhe)不合適，則會出現漏判(pan)或(huo)者(zhe)誤判(pan)，嚴重影響漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測的可靠性。
另一方(fang)面(mian)(mian)，沒有一種探(tan)頭(tou)是(shi)萬能的(de)。由于自然缺(que)陷的(de)形(xing)態(tai)千變萬化，檢測探(tan)頭(tou)必然存(cun)在局(ju)限性，漏判或誤判的(de)情況在檢測實踐(jian)中時(shi)有發生。下面(mian)(mian)對檢測探(tan)頭(tou)的(de)內部結(jie)構和檢測特性進行分析。
一、漏磁檢測(ce)探頭的結構形式
目前，最(zui)具(ju)代(dai)表性的(de)不銹鋼管漏磁檢測傳感器有兩(liang)種：霍(huo)爾元(yuan)件和感應線(xian)圈，尤其是(shi)集成霍(huo)爾元(yuan)件和光(guang)刻平面線(xian)圈。為了獲得較(jiao)高的(de)磁場測量空(kong)間(jian)分辨力(li)和相對(dui)寬廣的(de)掃查范圍，檢測探頭芯結(jie)構(gou)有多種形式。
1. 點(dian)檢(jian)測(ce)(ce)形式 在檢(jian)測(ce)(ce)探頭中，對(dui)某一(yi)點(dian)上(shang)或微小(xiao)區(qu)域(yu)的(de)(de)漏磁場測(ce)(ce)量，并且(qie)每個(ge)測(ce)(ce)點(dian)對(dui)應于一(yi)個(ge)獨立(li)的(de)(de)信(xin)號通道(dao)，如圖3-6a所示，以下簡(jian)稱為點(dian)檢(jian)探頭。很(hen)明顯，點(dian)檢(jian)探頭中每個(ge)點(dian)能夠(gou)掃查的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)范圍很(hen)小(xiao)，但空間(jian)分辨力(li)高，如單個(ge)霍爾元件的(de)(de)敏(min)感面積(ji)只有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)(ce)線圈也可做到φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)形式(shi) 在(zai)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)探頭中，對一條線(xian)(xian)上的(de)(de)漏磁(ci)場進行綜合(he)測(ce)(ce)(ce)量，如圖3-6b所示，以(yi)下簡稱為(wei)線(xian)(xian)檢(jian)探頭。例如，用感應線(xian)(xian)圈(quan)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)時，將線(xian)(xian)圈(quan)做成條狀，則它感應的(de)(de)是線(xian)(xian)圈(quan)掃查路(lu)徑(jing)對應空間范圍內的(de)(de)漏磁(ci)通(tong)(tong)的(de)(de)變化。用霍爾(er)元(yuan)件(jian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)時，采用線(xian)(xian)陣排(pai)列，將多(duo)個元(yuan)件(jian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)信(xin)號用加法器疊加后輸出單個通(tong)(tong)道(dao)信(xin)號，則該信(xin)號反(fan)映的(de)(de)是霍爾(er)元(yuan)件(jian)線(xian)(xian)陣長度(du)內的(de)(de)磁(ci)感應強度(du)的(de)(de)平均值。
在(zai)漏(lou)磁檢測(ce)中，上述(shu)兩種形(xing)式(shi)是最基本的(de)形(xing)式(shi)，由此可以(yi)組合(he)成(cheng)多種形(xing)式(shi)的(de)探頭(tou)，如圖3-6c所(suo)(suo)示(shi)的(de)平(ping)面內的(de)面陣列探頭(tou)，以(yi)及(ji)圖3-6d所(suo)(suo)示(shi)的(de)多個平(ping)面上的(de)立體陣列探頭(tou)。
二、漏(lou)磁(ci)檢測(ce)探(tan)頭的檢測(ce)特(te)性
1. 缺陷類型
不銹鋼(gang)管(guan)在進行漏磁(ci)檢(jian)測方法(fa)和設備的(de)考核時，常(chang)采(cai)用機加工或電火(huo)花方式刻制(zhi)標(biao)準人工缺陷，自然缺陷可表達成它們的(de)組(zu)合形式。為便于分析和精確(que)評估，將標(biao)準缺陷分成下列三類。
（1）點(dian)(dian)狀缺(que)陷 點(dian)(dian)狀缺(que)陷的(de)面積小(xiao)，集中在一點(dian)(dian)或(huo)小(xiao)圈(quan)內，如標準缺(que)陷里的(de)通孔，自然缺(que)陷里的(de)蝕坑、斑點(dian)(dian)、氣孔等，它們產生的(de)漏磁場(chang)是一個集中的(de)點(dian)(dian)團狀場(chang)，分(fen)布(bu)范圍小(xiao)。
（2）線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian) 線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)的寬長比很小(xiao)，形(xing)成一(yi)條(tiao)線(xian)，如標準缺陷(xian)里(li)(li)的矩形(xing)刻槽、自然缺陷(xian)里(li)(li)的裂(lie)紋等(deng)，它們(men)產生的漏磁(ci)場(chang)(chang)是沿線(xian)條(tiao)的帶(dai)狀(zhuang)(zhuang)場(chang)(chang)。
（3）體狀缺(que)陷 體狀缺(que)陷的(de)長、寬、深(shen)尺寸(cun)均較(jiao)大，形成(cheng)坑或窩(wo)，如(ru)標(biao)準(zhun)缺(que)陷中的(de)大不通孔、自然缺(que)陷里的(de)片狀腐蝕等，它們產生的(de)漏(lou)磁場分布范圍廣。
2. 不(bu)同結構探頭的(de)檢測特性
不銹鋼管在漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)中，特(te)別要強調(diao)空(kong)間(jian)和方(fang)向的概(gai)念。因為(wei)，漏磁(ci)場是空(kong)間(jian)場，且(qie)具有方(fang)向性；漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)(xin)號(hao)是時間(jian)域的，且(qie)沒有相位信(xin)(xin)息；不僅檢(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭具有敏感(gan)方(fang)向，而且(qie)檢(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭的掃查路(lu)徑也具有方(fang)向性，不同方(fang)向均會(hui)對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)(xin)號(hao)及(ji)其特(te)征產生影響。
另一方面，應該特別(bie)注意缺(que)陷漏磁(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)(de)表征形(xing)式，在這(zhe)里，漏磁(ci)(ci)場(chang)強(qiang)度(du)和漏磁(ci)(ci)場(chang)梯度(du)存在著本質的(de)(de)(de)不同。霍爾元件(jian)和感應線圈兩種器件(jian)的(de)(de)(de)應用也有著根本的(de)(de)(de)區(qu)別(bie)。霍爾元件(jian)可(ke)以測量空間(jian)某點上(shang)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)場(chang)強(qiang)度(du)，而感應線圈卻無法(fa)實現；感應線圈感應的(de)(de)(de)是空間(jian)一定范圍內(nei)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通(tong)量的(de)(de)(de)變化程(cheng)度(du)，相反，霍爾元件(jian)不可(ke)以測量磁(ci)(ci)通(tong)量的(de)(de)(de)變化，它測量的(de)(de)(de)是一定空間(jian)范圍內(nei)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感應強(qiang)度(du)的(de)(de)(de)平均值。
下面(mian)將逐一(yi)分析兩種基本探(tan)頭形式對不同類型缺(que)陷的檢測(ce)信號特性。
a. 點檢探(tan)頭的信(xin)號特性(xing)
點檢(jian)(jian)探頭測(ce)量(liang)的(de)(de)是(shi)空(kong)間(jian)(jian)某點上的(de)(de)漏(lou)磁感應強度(du)(du)或(huo)磁通量(liang)的(de)(de)變(bian)化(hua)。點檢(jian)(jian)探頭對點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)“針尖對麥芒”，空(kong)間(jian)(jian)相(xiang)對位置的(de)(de)微小變(bian)化(hua)，均有可(ke)能引起(qi)檢(jian)(jian)測(ce)信號幅(fu)度(du)(du)的(de)(de)波動。點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)(de)漏(lou)磁場分(fen)布是(shi)尖峰(feng)狀(zhuang)的(de)(de)，當點檢(jian)(jian)探頭正對峰(feng)頂時(shi)，信號幅(fu)度(du)(du)最(zui)大(da)，偏(pian)離時(shi)信號幅(fu)度(du)(du)將(jiang)急劇(ju)下降(jiang)。因此，用點檢(jian)(jian)探頭去檢(jian)(jian)測(ce)點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)時(shi)將(jiang)會(hui)產生不穩(wen)定的(de)(de)信號，導致(zhi)誤判(pan)或(huo)漏(lou)判(pan)。進行檢(jian)(jian)測(ce)設備標(biao)定時(shi)，也難(nan)將(jiang)各通道的(de)(de)靈(ling)敏度(du)(du)調整到一致(zhi)。
點檢(jian)探頭檢(jian)測線(xian)狀缺陷時，很容易掃(sao)查到線(xian)狀缺陷產生的(de)“山脈”狀漏磁(ci)場的(de)某一(yi)個縱(zong)斷面，檢(jian)測信(xin)號(hao)幅度(du)將正比(bi)于線(xian)狀缺陷的(de)深度(du)。當線(xian)狀缺陷長(chang)度(du)大于一(yi)定(ding)值時，設備標定(ding)或檢(jian)測信(xin)號(hao)的(de)一(yi)致性和穩(wen)定(ding)性均較好。
b. 線檢探頭的信號特性
線檢探(tan)(tan)頭(tou)測量的(de)(de)(de)是探(tan)(tan)頭(tou)長(chang)度范圍內的(de)(de)(de)平均(jun)磁感應強(qiang)度或磁通量的(de)(de)(de)變化(hua)。與(yu)點(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)相比(bi)，線檢探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)輸(shu)出(chu)信號(hao)特性不(bu)但與(yu)缺陷(xian)的(de)(de)(de)深度有關，而(er)且與(yu)缺陷(xian)的(de)(de)(de)長(chang)度有關，最終與(yu)缺陷(xian)缺失(shi)的(de)(de)(de)截面積成比(bi)例(li)。這類探(tan)(tan)頭(tou)不(bu)能(neng)直接獲得(de)與(yu)缺陷(xian)深度相關的(de)(de)(de)信息，因(yin)為長(chang)而(er)淺的(de)(de)(de)缺陷(xian)與(yu)短而(er)深的(de)(de)(de)缺陷(xian)在檢測信號(hao)幅度上有可能(neng)是一樣的(de)(de)(de)。
線檢探(tan)頭(tou)對點狀缺(que)陷(xian)的檢測(ce)是“滴(di)水不(bu)漏”。由于(yu)線檢探(tan)頭(tou)的長(chang)度遠大于(yu)點狀缺(que)陷(xian)的長(chang)度，在(zai)檢測(ce)路徑上，缺(que)陷(xian)相對于(yu)探(tan)頭(tou)位置變化時，不(bu)會(hui)影響檢測(ce)信號的幅度，因而一致性較(jiao)好。
線檢(jian)探(tan)頭檢(jian)測線狀缺陷時，情況(kuang)較(jiao)為復雜，探(tan)頭與缺陷的長度(du)比以及位(wei)置關系(xi)均會影響信(xin)號幅值。下面舉例分析。
如圖3-7a所示，用有效長度(du)為(wei)25mm的(de)(de)(de)線(xian)檢探(tan)頭(tou)檢測25mm長的(de)(de)(de)刻(ke)槽。當探(tan)頭(tou)正對刻(ke)槽時，獲得最大的(de)(de)(de)信號(hao)幅(fu)值；當探(tan)頭(tou)與刻(ke)槽的(de)(de)(de)位(wei)置錯(cuo)開(kai)時，信號(hao)幅(fu)值將隨著探(tan)頭(tou)與缺陷(xian)交叉重疊程度(du)的(de)(de)(de)減小而減弱，此種狀態對檢測是(shi)(shi)不(bu)利的(de)(de)(de)，不(bu)論是(shi)(shi)設備標定還是(shi)(shi)檢測應用均(jun)很難獲得一(yi)致的(de)(de)(de)檢測信號(hao)。圖3-7中左邊的(de)(de)(de)粗線(xian)段為(wei)線(xian)檢探(tan)頭(tou)，中間的(de)(de)(de)細線(xian)段為(wei)不(bu)同位(wei)置的(de)(de)(de)線(xian)狀缺陷(xian)，右邊為(wei)不(bu)同探(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)檢測信號(hao)幅(fu)度(du)。為(wei)實現線(xian)檢探(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)一(yi)致性檢測，有如下兩種做法：
①. 減(jian)小(xiao)線檢(jian)(jian)探頭的(de)有效長(chang)度，讓它小(xiao)于(yu)或等于(yu)線狀缺陷長(chang)度的(de)一(yi)半(ban)，同時將相鄰(lin)檢(jian)(jian)測(ce)探頭按50％重(zhong)疊布置，如圖(tu)3-7b所示。可(ke)以(yi)看出(chu)，不論缺陷從哪(na)個路徑通(tong)過探頭陣列(lie)，均可(ke)在某(mou)一(yi)檢(jian)(jian)測(ce)單元(yuan)中(zhong)獲(huo)得一(yi)個最大的(de)信(xin)(xin)號(hao)幅值，而(er)在其他(ta)檢(jian)(jian)測(ce)單元(yuan)中(zhong)得到較小(xiao)的(de)信(xin)(xin)號(hao)幅值。
此時(shi)，由(you)于線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)遠大于探(tan)頭(tou)(tou)長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)，檢(jian)測探(tan)頭(tou)(tou)測量的(de)(de)是漏(lou)磁(ci)場“山脈(mo)”中的(de)(de)某一段，如果線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷深度(du)(du)一致，它可(ke)以直接反映出深度(du)(du)信息。將線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)長(chang)(chang)(chang)度(du)(du)再不斷(duan)縮(suo)小，線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)則變成點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)。此時(shi)，在采用標準人工缺(que)陷進行設備標定時(shi)，任何狀(zhuang)態均可(ke)得(de)到一致的(de)(de)檢(jian)測信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此(ci)種檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法測(ce)(ce)量的(de)是線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)平(ping)均磁感應強度，因而，它反映不(bu)了線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)深度信息。當缺(que)陷(xian)的(de)長度逐漸減(jian)小時(shi)，則轉變成線檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)對點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)。
3. 面向對象的檢(jian)測探頭設計(ji)和選用
在(zai)漏磁檢測中，應該根(gen)據具體的(de)檢測要(yao)求來設計(ji)和選擇合適的(de)探頭芯(xin)結構，下面給出幾種探頭設計(ji)和選用(yong)原則(ze)。
a. 缺陷(xian)(xian)(xian)的深(shen)(shen)度(du)(du)檢測(ce)(ce)應(ying)該選擇點檢探(tan)頭 點檢探(tan)頭反映(ying)的是局部磁(ci)感應(ying)強度(du)(du)或其變化。當裂紋較長時，測(ce)(ce)點相當于對無限長矩形槽的探(tan)測(ce)(ce)，因而，測(ce)(ce)點的信號幅度(du)(du)與缺陷(xian)(xian)(xian)深(shen)(shen)度(du)(du)密切相關。但(dan)是，當線狀缺陷(xian)(xian)(xian)越來(lai)越短(duan)時，測(ce)(ce)量的誤差也就越來(lai)越大，特別地，對點狀缺陷(xian)(xian)(xian)的深(shen)(shen)度(du)(du)探(tan)測(ce)(ce)幾(ji)乎(hu)不可能。
在鋼管漏(lou)磁檢(jian)測校樣過程中，一般均以(yi)通(tong)(tong)(tong)孔(kong)作為標定試(shi)樣上的(de)(de)(de)標準缺陷，這樣，大、小(xiao)孔(kong)的(de)(de)(de)深(shen)度(du)一致，孔(kong)徑尺(chi)寸反映出(chu)缺失(shi)截面(mian)積的(de)(de)(de)線(xian)性變化，因(yin)而(er)，漏(lou)磁磁通(tong)(tong)(tong)量(liang)也(ye)(ye)將發(fa)生線(xian)性變化。對于不(bu)通(tong)(tong)(tong)孔(kong)，當孔(kong)的(de)(de)(de)深(shen)度(du)和(he)直徑均為變量(liang)時，僅通(tong)(tong)(tong)過尋找孔(kong)深(shen)與孔(kong)徑的(de)(de)(de)乘積與信號幅度(du)關系去反演(yan)或推(tui)算深(shen)度(du)是不(bu)可能的(de)(de)(de)。這也(ye)(ye)是僅采用漏(lou)磁方法進行檢(jian)測的(de)(de)(de)不(bu)足。
b. 缺(que)陷的(de)損失截面積檢測應該選擇線檢探(tan)頭(tou)(tou) 線檢探(tan)頭(tou)(tou)的(de)信號幅度(du)(du)與缺(que)陷損失的(de)截面積成比例，因而(er)有(you)(you)較好的(de)測量精度(du)(du)。在有(you)(you)些檢測對象中應用較好。
c. 缺(que)陷的(de)(de)(de)長(chang)度(du)檢(jian)測(ce)應(ying)該用點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)陣列或點(dian)線組合式探(tan)(tan)頭(tou) 點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)敏感于(yu)缺(que)陷的(de)(de)(de)深(shen)度(du)，當(dang)采用點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)陣列時，缺(que)陷長(chang)度(du)覆蓋的(de)(de)(de)通道(dao)數(shu)量(liang)可以(yi)反映其長(chang)度(du)信息；另(ling)一方(fang)面，當(dang)線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)大于(yu)缺(que)陷的(de)(de)(de)長(chang)度(du)時，感應(ying)的(de)(de)(de)是深(shen)度(du)和長(chang)度(du)的(de)(de)(de)共同信息，如在其感應(ying)范圍內(nei)并列布置一個(ge)或多(duo)個(ge)點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)感受深(shen)度(du)信息，則裂紋的(de)(de)(de)長(chang)度(du)就可以(yi)計算出來(lai)。
從信號處理角(jiao)度(du)(du)來看，點線組合式探頭(tou)需要的通(tong)道數量較少，可以同(tong)時(shi)獲得缺陷的深(shen)度(du)(du)、長度(du)(du)、缺失(shi)截面(mian)積等信息，具有較強的應用(yong)價值。
d. 斜向(xiang)(xiang)(xiang)裂(lie)紋(wen)采用點檢(jian)探頭陣列檢(jian)測 在漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測中(zhong)，當缺(que)陷走(zou)向(xiang)(xiang)(xiang)與磁(ci)(ci)化場(chang)方(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)不垂直時(shi)，漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)(de)強度(du)(du)將降低，從(cong)而獲得較(jiao)小(xiao)的(de)(de)(de)信號(hao)幅(fu)值。因此，斜向(xiang)(xiang)(xiang)缺(que)陷的(de)(de)(de)檢(jian)測與評估，需要首(shou)先檢(jian)測出裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)走(zou)向(xiang)(xiang)(xiang)，并且根據走(zou)向(xiang)(xiang)(xiang)修正漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)場(chang)信號(hao)幅(fu)度(du)(du)，再進行深度(du)(du)判別。
另一方面，當探頭(tou)掃查路徑垂直于(yu)缺陷走向時(shi)，檢測信號(hao)幅值(zhi)最大(da)；隨著兩者夾(jia)角不斷減(jian)小，檢測信號(hao)幅值(zhi)逐漸降低，同(tong)時(shi)信號(hao)特(te)性(xing)也將發生(sheng)明(ming)顯變化(hua)。此時(shi)，線檢探頭(tou)的(de)(de)檢測信號(hao)特(te)性(xing)變化(hua)很大(da)，點檢探頭(tou)的(de)(de)信號(hao)幅度波(bo)動卻很小。因(yin)此，可(ke)利用(yong)點檢探頭(tou)陣列中各通(tong)道獲得最大(da)幅值(zhi)的(de)(de)時(shi)間差異來(lai)推算缺陷走向，為(wei)后續的(de)(de)信號(hao)補(bu)償與缺陷判別奠定基礎(chu)，如圖(tu)3-8所(suo)示(shi)。
漏磁(ci)(ci)設備的檢測(ce)能力(li)與探頭芯結構密切相(xiang)關，從目前應用情況(kuang)來看，漏磁(ci)(ci)檢測(ce)方(fang)法(fa)對內(nei)(nei)外(wai)(wai)部腐蝕坑、內(nei)(nei)外(wai)(wai)部周／軸向裂(lie)紋(wen)(wen)均(jun)(jun)有(you)(you)較(jiao)好的檢測(ce)精度，同時，對斜(xie)向裂(lie)紋(wen)(wen)具(ju)有(you)(you)一(yi)定的檢測(ce)能力(li)。但是，漏磁(ci)(ci)檢測(ce)方(fang)法(fa)對微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)，如初期的疲勞裂(lie)紋(wen)(wen)、熱(re)處理的應力(li)裂(lie)紋(wen)(wen)、軋制時的微(wei)機械(xie)裂(lie)紋(wen)(wen)和折疊不太敏(min)感。究其(qi)原(yuan)因，微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)的開口均(jun)(jun)小(xiao)于0.05mm，漏磁(ci)(ci)場(chang)強度較(jiao)低，因此，有(you)(you)必要(yao)輔以渦流(liu)、超聲等其(qi)他檢測(ce)方(fang)法(fa)。
我國進(jin)口漏(lou)磁檢(jian)測(ce)設備采用的(de)(de)基本都是基于線(xian)圈的(de)(de)線(xian)檢(jian)探頭，這種配置需要的(de)(de)信號通道數量相對較(jiao)(jiao)少、探靴的(de)(de)有效覆蓋范圍大。但是，這種方(fang)式對缺陷的(de)(de)深度評定需要一定的(de)(de)輔(fu)助條(tiao)件，而且對斜向缺陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)靈敏度較(jiao)(jiao)低。
在具體應(ying)用過程中，首先應(ying)分析檢測(ce)要求和(he)對象特點，其次要認識探(tan)頭(tou)芯(xin)的(de)形式(shi)和(he)結構。總的(de)來講，采用線檢探(tan)頭(tou)去檢測(ce)線狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)深度信(xin)(xin)息(xi)和(he)采用點檢探(tan)頭(tou)去評(ping)定點狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)長度信(xin)(xin)息(xi)均是(shi)不現實的(de)；高精度的(de)檢測(ce)需(xu)要以大量(liang)(liang)的(de)獨立(li)測(ce)量(liang)(liang)通道(dao)和(he)信(xin)(xin)號(hao)處理系(xi)統(tong)為代價，因(yin)此，應(ying)根據檢測(ce)目標綜合權衡(heng)。
