自動化不銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢測(ce)探頭(tou)(tou)是(shi)(shi)磁(ci)(ci)場傳感器(qi)(qi)的(de)(de)載體(ti)和組(zu)合，是(shi)(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)信號的(de)(de)收集器(qi)(qi)。隨著漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)應用的(de)(de)不(bu)斷深(shen)入和檢測(ce)要求的(de)(de)逐(zhu)步提高，除了磁(ci)(ci)化(hua)問(wen)題，另一個核心就是(shi)(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)探頭(tou)(tou)的(de)(de)設計。若探頭(tou)(tou)性(xing)能(neng)不(bu)好或者(zhe)不(bu)合適，則會出現漏(lou)判(pan)或者(zhe)誤判(pan)，嚴(yan)重影響(xiang)漏(lou)磁(ci)(ci)檢測(ce)的(de)(de)可靠(kao)性(xing)。
另一方面，沒有一種(zhong)探頭是萬能的(de)。由于自(zi)然(ran)缺陷(xian)的(de)形態千變萬化，檢(jian)測(ce)探頭必(bi)然(ran)存在局限性，漏判或誤判的(de)情況在檢(jian)測(ce)實(shi)踐中時有發生。下面對檢(jian)測(ce)探頭的(de)內(nei)部結構和(he)檢(jian)測(ce)特性進行分析。
一、漏(lou)磁檢測探頭的結構形式
目前，最(zui)具代表性的(de)不銹鋼管(guan)漏磁(ci)檢測(ce)傳(chuan)感(gan)器有(you)(you)兩種：霍爾元(yuan)件(jian)和感(gan)應(ying)線圈(quan)，尤其是集成霍爾元(yuan)件(jian)和光刻(ke)平(ping)面線圈(quan)。為了獲(huo)得較高的(de)磁(ci)場測(ce)量空間分辨(bian)力和相對(dui)寬廣的(de)掃查范圍(wei)，檢測(ce)探頭芯結(jie)構有(you)(you)多種形(xing)式。
1. 點(dian)檢測(ce)形式(shi) 在檢測(ce)探頭(tou)中(zhong)，對(dui)某一點(dian)上或微(wei)小區域的(de)漏磁場測(ce)量，并且每個(ge)測(ce)點(dian)對(dui)應于一個(ge)獨立的(de)信號通道(dao)，如圖3-6a所示，以(yi)下簡稱(cheng)為點(dian)檢探頭(tou)。很明(ming)顯，點(dian)檢探頭(tou)中(zhong)每個(ge)點(dian)能夠掃查的(de)檢測(ce)范圍很小，但空間分辨力(li)高，如單(dan)個(ge)霍(huo)爾元件的(de)敏(min)感面積只(zhi)有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢用檢測(ce)線圈也(ye)可(ke)做(zuo)到(dao)φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)(xian)檢(jian)測形式 在檢(jian)測探(tan)頭中，對一(yi)條線(xian)(xian)(xian)上的漏(lou)磁(ci)(ci)場進行綜合測量(liang)，如(ru)圖3-6b所示，以下(xia)簡(jian)稱為線(xian)(xian)(xian)檢(jian)探(tan)頭。例如(ru)，用(yong)感應(ying)線(xian)(xian)(xian)圈檢(jian)測時，將線(xian)(xian)(xian)圈做成條狀(zhuang)，則它感應(ying)的是(shi)(shi)線(xian)(xian)(xian)圈掃查路徑(jing)對應(ying)空間范圍內的漏(lou)磁(ci)(ci)通的變化(hua)。用(yong)霍爾元件(jian)(jian)檢(jian)測時，采用(yong)線(xian)(xian)(xian)陣排列，將多個元件(jian)(jian)檢(jian)測信(xin)號用(yong)加法器疊(die)加后輸出(chu)單個通道信(xin)號，則該信(xin)號反映的是(shi)(shi)霍爾元件(jian)(jian)線(xian)(xian)(xian)陣長度內的磁(ci)(ci)感應(ying)強度的平均值。
在漏磁檢(jian)測中，上述(shu)兩(liang)種形(xing)(xing)式是(shi)最(zui)基本的(de)(de)形(xing)(xing)式，由(you)此可以組合成多種形(xing)(xing)式的(de)(de)探頭，如圖3-6c所(suo)示的(de)(de)平(ping)面內的(de)(de)面陣列(lie)探頭，以及圖3-6d所(suo)示的(de)(de)多個(ge)平(ping)面上的(de)(de)立體陣列(lie)探頭。
二(er)、漏磁(ci)檢測探頭的檢測特(te)性(xing)
1. 缺陷類(lei)型(xing)
不銹鋼管在進行漏磁檢測方法和(he)設備的考(kao)核時，常采用機加(jia)工或電火(huo)花方式刻(ke)制標(biao)準人工缺(que)陷(xian)，自然缺(que)陷(xian)可表達成它們的組合形(xing)式。為(wei)便于分(fen)析和(he)精確評估(gu)，將標(biao)準缺(que)陷(xian)分(fen)成下列三類(lei)。
（1）點(dian)(dian)狀缺陷 點(dian)(dian)狀缺陷的面(mian)積(ji)小(xiao)(xiao)，集中在(zai)一(yi)點(dian)(dian)或小(xiao)(xiao)圈內，如標準缺陷里的通孔，自然缺陷里的蝕坑(keng)、斑點(dian)(dian)、氣孔等，它們產生的漏磁(ci)場是(shi)一(yi)個(ge)集中的點(dian)(dian)團狀場，分布范圍小(xiao)(xiao)。
（2）線狀(zhuang)缺陷(xian) 線狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)寬長比(bi)很小，形成(cheng)一(yi)條線，如標準缺陷(xian)里的(de)矩形刻槽、自然缺陷(xian)里的(de)裂紋等，它們產生的(de)漏(lou)磁場(chang)是沿線條的(de)帶狀(zhuang)場(chang)。
（3）體狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian) 體狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)長(chang)、寬、深尺(chi)寸均較大(da)，形成坑或(huo)窩，如標準(zhun)缺(que)(que)陷(xian)中的(de)(de)(de)大(da)不通孔、自然缺(que)(que)陷(xian)里的(de)(de)(de)片狀(zhuang)腐蝕等(deng)，它們(men)產(chan)生的(de)(de)(de)漏磁場分布(bu)范圍(wei)廣。
2. 不同結(jie)構探頭的檢測特性
不(bu)銹鋼管(guan)在漏磁(ci)檢測(ce)(ce)中，特別(bie)要(yao)強調空間(jian)和方(fang)向的概念。因為，漏磁(ci)場(chang)是空間(jian)場(chang)，且(qie)具有方(fang)向性；漏磁(ci)檢測(ce)(ce)信(xin)號是時間(jian)域的，且(qie)沒有相位信(xin)息；不(bu)僅檢測(ce)(ce)探頭(tou)具有敏感方(fang)向，而且(qie)檢測(ce)(ce)探頭(tou)的掃查路徑也具有方(fang)向性，不(bu)同方(fang)向均會(hui)對檢測(ce)(ce)信(xin)號及(ji)其特征產生影響。
另一(yi)方面，應(ying)(ying)該特別注意缺陷漏(lou)磁場(chang)的(de)(de)(de)表征形(xing)式(shi)，在(zai)這里，漏(lou)磁場(chang)強度和漏(lou)磁場(chang)梯度存在(zai)著本(ben)質的(de)(de)(de)不(bu)同。霍爾元件和感(gan)應(ying)(ying)線(xian)圈(quan)兩種器件的(de)(de)(de)應(ying)(ying)用也有著根本(ben)的(de)(de)(de)區別。霍爾元件可以測(ce)量(liang)(liang)空(kong)(kong)間(jian)某點上的(de)(de)(de)磁場(chang)強度，而感(gan)應(ying)(ying)線(xian)圈(quan)卻(que)無法實現；感(gan)應(ying)(ying)線(xian)圈(quan)感(gan)應(ying)(ying)的(de)(de)(de)是空(kong)(kong)間(jian)一(yi)定范圍內(nei)的(de)(de)(de)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)變(bian)化程度，相反，霍爾元件不(bu)可以測(ce)量(liang)(liang)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)變(bian)化，它測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)是一(yi)定空(kong)(kong)間(jian)范圍內(nei)的(de)(de)(de)磁感(gan)應(ying)(ying)強度的(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一分析兩種基本探頭形式對不(bu)同類型缺陷的檢測信(xin)號特(te)性。
a. 點(dian)檢探頭的信(xin)號特(te)性(xing)
點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭測(ce)量(liang)的(de)是空(kong)間某點(dian)(dian)(dian)上的(de)漏(lou)磁感(gan)應強(qiang)度或磁通量(liang)的(de)變(bian)化(hua)。點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭對(dui)點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)是“針尖(jian)對(dui)麥芒”，空(kong)間相對(dui)位置的(de)微小變(bian)化(hua)，均有可能引(yin)起檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)幅度的(de)波動。點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)漏(lou)磁場分布(bu)是尖(jian)峰狀(zhuang)的(de)，當點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭正(zheng)對(dui)峰頂時(shi)，信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)幅度最大，偏離時(shi)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)幅度將(jiang)急劇下降。因此，用點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭去檢(jian)(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)時(shi)將(jiang)會產生(sheng)不穩定的(de)信(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)，導致誤判(pan)或漏(lou)判(pan)。進行檢(jian)(jian)測(ce)設備標定時(shi)，也難將(jiang)各通道(dao)的(de)靈敏度調整(zheng)到一致。
點檢(jian)(jian)探頭(tou)檢(jian)(jian)測線(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)時(shi)，很(hen)容(rong)易(yi)掃查(cha)到線(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)產生的(de)“山脈”狀漏磁場的(de)某一(yi)個縱斷(duan)面，檢(jian)(jian)測信號(hao)幅度(du)將正比于(yu)線(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)的(de)深度(du)。當線(xian)狀缺(que)(que)陷(xian)長度(du)大于(yu)一(yi)定(ding)值時(shi)，設備標定(ding)或檢(jian)(jian)測信號(hao)的(de)一(yi)致性和(he)穩(wen)定(ding)性均(jun)較(jiao)好。
b. 線檢探頭(tou)的信號特性
線檢(jian)(jian)探(tan)頭測量(liang)的(de)是探(tan)頭長(chang)度(du)(du)范圍內的(de)平均磁感(gan)應強度(du)(du)或磁通量(liang)的(de)變化。與(yu)點檢(jian)(jian)探(tan)頭相比，線檢(jian)(jian)探(tan)頭的(de)輸出信號特性不但與(yu)缺(que)陷(xian)的(de)深(shen)度(du)(du)有關，而且與(yu)缺(que)陷(xian)的(de)長(chang)度(du)(du)有關，最終(zhong)與(yu)缺(que)陷(xian)缺(que)失的(de)截(jie)面(mian)積成比例。這類探(tan)頭不能直接獲得與(yu)缺(que)陷(xian)深(shen)度(du)(du)相關的(de)信息，因(yin)為長(chang)而淺的(de)缺(que)陷(xian)與(yu)短而深(shen)的(de)缺(que)陷(xian)在檢(jian)(jian)測信號幅度(du)(du)上(shang)有可(ke)能是一(yi)樣的(de)。
線(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)對點狀缺陷的(de)(de)檢測(ce)是“滴(di)水不漏”。由于(yu)線(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)長度遠(yuan)大于(yu)點狀缺陷的(de)(de)長度，在(zai)檢測(ce)路徑上，缺陷相(xiang)對于(yu)探(tan)(tan)頭(tou)位置變化時，不會影響檢測(ce)信號的(de)(de)幅度，因而一(yi)致性較好。
線檢(jian)探頭(tou)檢(jian)測(ce)線狀缺陷(xian)時(shi)，情況較(jiao)為復雜，探頭(tou)與(yu)缺陷(xian)的長度比以及位置關系(xi)均會影響信號幅值。下面(mian)舉(ju)例分析。
如圖(tu)3-7a所示，用有效長(chang)度(du)為(wei)25mm的(de)(de)(de)(de)線檢(jian)探頭(tou)(tou)檢(jian)測25mm長(chang)的(de)(de)(de)(de)刻(ke)槽。當探頭(tou)(tou)正對刻(ke)槽時(shi)，獲得最大(da)的(de)(de)(de)(de)信號(hao)幅(fu)值；當探頭(tou)(tou)與刻(ke)槽的(de)(de)(de)(de)位置(zhi)錯開(kai)時(shi)，信號(hao)幅(fu)值將(jiang)隨著探頭(tou)(tou)與缺陷交叉重疊程度(du)的(de)(de)(de)(de)減小而減弱(ruo)，此種狀態對檢(jian)測是(shi)不利的(de)(de)(de)(de)，不論(lun)是(shi)設備標定還是(shi)檢(jian)測應用均很(hen)難獲得一(yi)致的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測信號(hao)。圖(tu)3-7中(zhong)左邊的(de)(de)(de)(de)粗線段(duan)為(wei)線檢(jian)探頭(tou)(tou)，中(zhong)間的(de)(de)(de)(de)細線段(duan)為(wei)不同位置(zhi)的(de)(de)(de)(de)線狀缺陷，右邊為(wei)不同探頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測信號(hao)幅(fu)度(du)。為(wei)實現線檢(jian)探頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)一(yi)致性檢(jian)測，有如下兩種做法：
①. 減(jian)小線檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)有(you)效長(chang)度(du)，讓(rang)它(ta)小于或等于線狀缺陷長(chang)度(du)的(de)一半，同(tong)時將相鄰檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)按(an)50％重(zhong)疊布置，如圖(tu)3-7b所示。可(ke)以看(kan)出(chu)，不論缺陷從哪個路(lu)徑通過探(tan)頭(tou)(tou)陣列，均可(ke)在(zai)某一檢(jian)測(ce)單元中獲(huo)得一個最大(da)的(de)信號幅(fu)值，而在(zai)其他(ta)檢(jian)測(ce)單元中得到較小的(de)信號幅(fu)值。
此(ci)時(shi)(shi)，由于(yu)(yu)線狀缺陷長(chang)度(du)遠大于(yu)(yu)探(tan)頭長(chang)度(du)，檢(jian)(jian)測探(tan)頭測量的(de)(de)是漏磁場“山脈”中的(de)(de)某一段，如果線狀缺陷深度(du)一致(zhi)(zhi)，它可(ke)以(yi)直(zhi)接反映出深度(du)信(xin)息。將線檢(jian)(jian)探(tan)頭的(de)(de)長(chang)度(du)再不(bu)斷縮小，線檢(jian)(jian)探(tan)頭則(ze)變(bian)成點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭。此(ci)時(shi)(shi)，在采(cai)用標準人(ren)工(gong)缺陷進行(xing)設(she)備標定時(shi)(shi)，任何狀態均可(ke)得到一致(zhi)(zhi)的(de)(de)檢(jian)(jian)測信(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種(zhong)檢測(ce)(ce)方法測(ce)(ce)量的(de)是(shi)線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)平均磁(ci)感應(ying)強度，因而，它(ta)反映不(bu)了(le)線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)深(shen)度信息。當缺(que)(que)陷(xian)的(de)長度逐漸減小時，則轉變成線檢探頭對(dui)點狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)檢測(ce)(ce)。
3. 面向對象的檢測(ce)探頭設計和選用
在漏磁檢(jian)測中，應(ying)該根據具體的(de)檢(jian)測要求來設計和選(xuan)擇合適的(de)探頭芯結構，下(xia)面給出幾種探頭設計和選(xuan)用原則。
a. 缺陷的(de)(de)深度(du)檢測(ce)(ce)應該選擇點(dian)檢探頭 點(dian)檢探頭反映的(de)(de)是局部磁感應強度(du)或其變化。當裂(lie)紋較長時(shi)，測(ce)(ce)點(dian)相(xiang)當于(yu)對(dui)無限(xian)長矩形(xing)槽的(de)(de)探測(ce)(ce)，因(yin)而(er)，測(ce)(ce)點(dian)的(de)(de)信號幅度(du)與缺陷深度(du)密切(qie)相(xiang)關。但是，當線狀缺陷越(yue)(yue)來越(yue)(yue)短時(shi)，測(ce)(ce)量的(de)(de)誤差也(ye)就越(yue)(yue)來越(yue)(yue)大，特別地，對(dui)點(dian)狀缺陷的(de)(de)深度(du)探測(ce)(ce)幾乎不可能。
在鋼管漏磁(ci)檢測(ce)校樣過程中，一般均(jun)以通(tong)孔(kong)(kong)作(zuo)為(wei)標定(ding)試樣上的標準缺陷(xian)，這樣，大、小孔(kong)(kong)的深(shen)度(du)一致，孔(kong)(kong)徑(jing)(jing)尺寸反映出缺失(shi)截面積(ji)的線性變化，因而，漏磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)也(ye)將發生線性變化。對于不(bu)通(tong)孔(kong)(kong)，當(dang)孔(kong)(kong)的深(shen)度(du)和(he)直(zhi)徑(jing)(jing)均(jun)為(wei)變量(liang)時，僅(jin)通(tong)過尋(xun)找孔(kong)(kong)深(shen)與孔(kong)(kong)徑(jing)(jing)的乘積(ji)與信號(hao)幅度(du)關系去(qu)反演(yan)或推算深(shen)度(du)是不(bu)可能的。這也(ye)是僅(jin)采用漏磁(ci)方法進行檢測(ce)的不(bu)足(zu)。
b. 缺陷的損(sun)失截面(mian)積(ji)檢測應該(gai)選擇線檢探頭 線檢探頭的信號幅度(du)與缺陷損(sun)失的截面(mian)積(ji)成比例，因(yin)而有較好(hao)的測量精度(du)。在有些(xie)檢測對(dui)象中應用較好(hao)。
c. 缺(que)陷(xian)的(de)長度(du)檢測(ce)應該用點(dian)(dian)檢探頭(tou)(tou)陣列或點(dian)(dian)線組(zu)合式探頭(tou)(tou) 點(dian)(dian)檢探頭(tou)(tou)敏感(gan)于(yu)缺(que)陷(xian)的(de)深度(du)，當采用點(dian)(dian)檢探頭(tou)(tou)陣列時(shi)，缺(que)陷(xian)長度(du)覆蓋(gai)的(de)通道(dao)數量(liang)可以反(fan)映其(qi)長度(du)信息(xi)；另一方面，當線檢探頭(tou)(tou)大于(yu)缺(que)陷(xian)的(de)長度(du)時(shi)，感(gan)應的(de)是深度(du)和長度(du)的(de)共同信息(xi)，如在其(qi)感(gan)應范圍內并列布置(zhi)一個或多個點(dian)(dian)檢探頭(tou)(tou)感(gan)受深度(du)信息(xi)，則裂紋的(de)長度(du)就可以計算出來。
從信號處理角度來看，點(dian)線(xian)組合式(shi)探(tan)頭需要的通道數量較(jiao)少，可以同時獲得缺(que)陷的深度、長度、缺(que)失截面(mian)積等信息(xi)，具(ju)有較(jiao)強的應用(yong)價值。
d. 斜(xie)向裂紋采用點檢(jian)(jian)探頭陣列檢(jian)(jian)測(ce) 在(zai)漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)中，當(dang)缺陷(xian)走向與磁(ci)(ci)化場(chang)(chang)方(fang)向不垂直時(shi)，漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)的強度(du)將降低，從(cong)而獲得較小的信號(hao)(hao)幅值。因此(ci)，斜(xie)向缺陷(xian)的檢(jian)(jian)測(ce)與評估，需要首(shou)先檢(jian)(jian)測(ce)出裂紋的走向，并且根(gen)據(ju)走向修正漏(lou)(lou)(lou)磁(ci)(ci)場(chang)(chang)信號(hao)(hao)幅度(du)，再進行深度(du)判別。
另一方面，當探頭(tou)掃(sao)查路徑垂直于缺(que)(que)陷走(zou)向時，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)(fu)值(zhi)最大(da)；隨著兩者夾(jia)角不斷減小(xiao)，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)(fu)值(zhi)逐漸降低，同(tong)時信(xin)(xin)號(hao)特(te)性也將(jiang)發(fa)生明顯變(bian)化。此(ci)時，線檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)的(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)特(te)性變(bian)化很(hen)大(da)，點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)的(de)信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)(fu)度波動卻很(hen)小(xiao)。因此(ci)，可利用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)陣列中各通道獲(huo)得(de)最大(da)幅(fu)(fu)值(zhi)的(de)時間差異來推算缺(que)(que)陷走(zou)向，為后續(xu)的(de)信(xin)(xin)號(hao)補(bu)償與(yu)缺(que)(que)陷判別奠定基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)磁(ci)(ci)設備的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)能力與探頭芯結構密切相關，從目前應用情(qing)況來看(kan)，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)對內外部腐蝕坑、內外部周(zhou)／軸向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)均有(you)(you)較(jiao)(jiao)好(hao)的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)精度(du)，同時，對斜向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)具有(you)(you)一定(ding)的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)能力。但(dan)是，漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)對微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)，如初期的(de)(de)疲勞裂(lie)(lie)紋(wen)、熱處(chu)理的(de)(de)應力裂(lie)(lie)紋(wen)、軋(ya)制時的(de)(de)微(wei)機械裂(lie)(lie)紋(wen)和(he)折疊不太(tai)敏感(gan)。究其原因，微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)(de)開口均小于(yu)0.05mm，漏(lou)磁(ci)(ci)場強度(du)較(jiao)(jiao)低，因此，有(you)(you)必要輔以渦流、超聲(sheng)等其他檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)。
我國進口漏磁檢測設備(bei)采用的(de)(de)(de)基本(ben)都是基于線(xian)圈的(de)(de)(de)線(xian)檢探頭，這(zhe)種配置需要的(de)(de)(de)信號通道數量相對較(jiao)少、探靴的(de)(de)(de)有效覆蓋范(fan)圍大。但(dan)是，這(zhe)種方式(shi)對缺陷的(de)(de)(de)深度評定需要一定的(de)(de)(de)輔助條件，而且對斜向缺陷的(de)(de)(de)檢測靈敏(min)度較(jiao)低(di)。
在具(ju)體應(ying)(ying)用過程中，首先應(ying)(ying)分(fen)析檢(jian)(jian)測要求和對象特(te)點(dian)(dian)，其(qi)次要認識探頭(tou)芯(xin)的形式和結(jie)構。總的來講，采(cai)用線(xian)檢(jian)(jian)探頭(tou)去檢(jian)(jian)測線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷的深度信(xin)(xin)息(xi)和采(cai)用點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)去評定點(dian)(dian)狀(zhuang)缺(que)陷的長度信(xin)(xin)息(xi)均(jun)是不現實的；高精度的檢(jian)(jian)測需要以(yi)大量的獨立測量通道和信(xin)(xin)號(hao)處(chu)理系統為代(dai)價(jia)，因(yin)此，應(ying)(ying)根(gen)據檢(jian)(jian)測目標綜合權衡。
