自動化不(bu)銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測探頭(tou)是(shi)磁(ci)場傳感(gan)器(qi)的(de)載體和組合，是(shi)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測信號的(de)收集器(qi)。隨著(zhu)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測應用的(de)不(bu)(bu)(bu)斷深入和檢(jian)(jian)測要求的(de)逐步提高，除了磁(ci)化問(wen)題，另(ling)一個(ge)核心就是(shi)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測探頭(tou)的(de)設計(ji)。若探頭(tou)性(xing)能不(bu)(bu)(bu)好(hao)或者不(bu)(bu)(bu)合適，則會出(chu)現漏(lou)(lou)判(pan)(pan)或者誤判(pan)(pan)，嚴重影響(xiang)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測的(de)可靠(kao)性(xing)。
另(ling)一方面，沒有(you)(you)一種探頭是(shi)萬能的(de)。由于自然缺陷(xian)的(de)形態千變萬化，檢(jian)測(ce)探頭必然存(cun)在局限性，漏判或誤判的(de)情況在檢(jian)測(ce)實踐中時(shi)有(you)(you)發生。下面對檢(jian)測(ce)探頭的(de)內部(bu)結構(gou)和檢(jian)測(ce)特性進(jin)行分析。
一、漏磁檢測探頭的結(jie)構形式
目前，最具代表(biao)性的(de)(de)不銹鋼(gang)管漏磁檢(jian)(jian)測(ce)傳感器(qi)有兩種(zhong)：霍(huo)爾元(yuan)件和(he)感應線圈，尤其(qi)是集成(cheng)霍(huo)爾元(yuan)件和(he)光刻平(ping)面(mian)線圈。為(wei)了獲得較(jiao)高的(de)(de)磁場測(ce)量(liang)空間分辨力和(he)相對寬廣的(de)(de)掃(sao)查范圍，檢(jian)(jian)測(ce)探頭芯(xin)結構(gou)有多種(zhong)形(xing)式。
1. 點(dian)(dian)(dian)(dian)檢測(ce)(ce)形(xing)式 在檢測(ce)(ce)探頭中，對某一點(dian)(dian)(dian)(dian)上或微(wei)小區(qu)域的(de)漏磁場測(ce)(ce)量，并且每個測(ce)(ce)點(dian)(dian)(dian)(dian)對應于一個獨立的(de)信號通道，如(ru)圖3-6a所示(shi)，以下簡稱為(wei)點(dian)(dian)(dian)(dian)檢探頭。很(hen)明顯，點(dian)(dian)(dian)(dian)檢探頭中每個點(dian)(dian)(dian)(dian)能夠掃查的(de)檢測(ce)(ce)范圍很(hen)小，但空間分辨力高(gao)，如(ru)單個霍爾元(yuan)件(jian)的(de)敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)(dian)(dian)檢用檢測(ce)(ce)線圈也(ye)可(ke)做到φ1mm內。
2. 線(xian)檢(jian)(jian)測(ce)形式 在檢(jian)(jian)測(ce)探頭(tou)中，對一條線(xian)上的(de)漏(lou)磁場進行綜合測(ce)量(liang)，如圖(tu)3-6b所示，以下簡(jian)稱為線(xian)檢(jian)(jian)探頭(tou)。例如，用(yong)感(gan)應線(xian)圈檢(jian)(jian)測(ce)時(shi)，將(jiang)線(xian)圈做成條狀，則(ze)它感(gan)應的(de)是(shi)線(xian)圈掃查路徑對應空間范圍(wei)內(nei)的(de)漏(lou)磁通(tong)的(de)變化(hua)。用(yong)霍爾元件(jian)(jian)檢(jian)(jian)測(ce)時(shi)，采用(yong)線(xian)陣(zhen)排列，將(jiang)多個元件(jian)(jian)檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)用(yong)加法器疊加后(hou)輸(shu)出單個通(tong)道信(xin)號(hao)，則(ze)該信(xin)號(hao)反映(ying)的(de)是(shi)霍爾元件(jian)(jian)線(xian)陣(zhen)長度(du)內(nei)的(de)磁感(gan)應強度(du)的(de)平均(jun)值。
在漏磁檢(jian)測中，上述(shu)兩種形式是最(zui)基本的(de)(de)(de)形式，由此可以組合(he)成多種形式的(de)(de)(de)探頭，如圖3-6c所(suo)示的(de)(de)(de)平面內的(de)(de)(de)面陣列探頭，以及圖3-6d所(suo)示的(de)(de)(de)多個平面上的(de)(de)(de)立(li)體(ti)陣列探頭。
二(er)、漏(lou)磁檢測(ce)探頭的檢測(ce)特性(xing)
1. 缺陷(xian)類型
不銹鋼管在進(jin)行漏磁檢測方法和設備的(de)(de)考核時(shi)，常(chang)采用機加工(gong)或電火花方式刻(ke)制標準人工(gong)缺(que)陷(xian)(xian)，自(zi)然缺(que)陷(xian)(xian)可表達(da)成它們的(de)(de)組合形式。為(wei)便于分析和精確評估，將(jiang)標準缺(que)陷(xian)(xian)分成下列三類。
（1）點狀(zhuang)缺(que)陷(xian) 點狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)面(mian)積小(xiao)，集(ji)中在一點或小(xiao)圈內，如標準(zhun)缺(que)陷(xian)里(li)的(de)通孔(kong)，自然缺(que)陷(xian)里(li)的(de)蝕(shi)坑、斑點、氣孔(kong)等，它們(men)產(chan)生的(de)漏磁場是一個集(ji)中的(de)點團狀(zhuang)場，分(fen)布范圍小(xiao)。
（2）線(xian)狀缺陷 線(xian)狀缺陷的(de)寬(kuan)長比很小，形成一條線(xian)，如標準缺陷里的(de)矩形刻槽、自然缺陷里的(de)裂紋(wen)等，它們產生的(de)漏磁場是沿線(xian)條的(de)帶狀場。
（3）體(ti)狀缺(que)陷 體(ti)狀缺(que)陷的長、寬、深尺(chi)寸均較大，形成坑或(huo)窩(wo)，如標準(zhun)缺(que)陷中的大不通孔、自然缺(que)陷里的片(pian)狀腐蝕等，它(ta)們(men)產生的漏磁場分布范圍廣。
2. 不(bu)同結構探(tan)頭的檢測特性
不(bu)銹鋼管在漏磁檢測中，特別要強調空間和方(fang)向(xiang)的概念。因為，漏磁場是空間場，且具有(you)方(fang)向(xiang)性(xing)；漏磁檢測信(xin)號是時間域的，且沒有(you)相(xiang)位(wei)信(xin)息；不(bu)僅檢測探(tan)頭(tou)具有(you)敏感方(fang)向(xiang)，而且檢測探(tan)頭(tou)的掃(sao)查路徑也具有(you)方(fang)向(xiang)性(xing)，不(bu)同方(fang)向(xiang)均(jun)會對檢測信(xin)號及其(qi)特征(zheng)產生影響(xiang)。
另一(yi)(yi)方面(mian)，應該特(te)別(bie)注意缺陷漏(lou)磁(ci)場的(de)(de)表(biao)征形式，在(zai)這里，漏(lou)磁(ci)場強(qiang)(qiang)度(du)和漏(lou)磁(ci)場梯(ti)度(du)存(cun)在(zai)著本質的(de)(de)不同。霍爾(er)元件(jian)和感(gan)應線圈(quan)兩種器件(jian)的(de)(de)應用也有著根本的(de)(de)區別(bie)。霍爾(er)元件(jian)可以測量(liang)空間某點(dian)上的(de)(de)磁(ci)場強(qiang)(qiang)度(du)，而感(gan)應線圈(quan)卻無法實現；感(gan)應線圈(quan)感(gan)應的(de)(de)是空間一(yi)(yi)定(ding)范圍內(nei)的(de)(de)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變(bian)化程度(du)，相(xiang)反，霍爾(er)元件(jian)不可以測量(liang)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變(bian)化，它(ta)測量(liang)的(de)(de)是一(yi)(yi)定(ding)空間范圍內(nei)的(de)(de)磁(ci)感(gan)應強(qiang)(qiang)度(du)的(de)(de)平均值。
下面將逐一分析兩(liang)種基本探頭形(xing)式對不同(tong)類型缺陷的(de)檢測信號特性。
a. 點(dian)檢(jian)探頭的信號(hao)特(te)性(xing)
點(dian)(dian)檢探頭測量(liang)(liang)的(de)是(shi)空(kong)間某點(dian)(dian)上的(de)漏(lou)磁(ci)感應強度或磁(ci)通(tong)量(liang)(liang)的(de)變化。點(dian)(dian)檢探頭對(dui)(dui)點(dian)(dian)狀缺(que)(que)陷的(de)檢測是(shi)“針尖對(dui)(dui)麥芒(mang)”，空(kong)間相對(dui)(dui)位置(zhi)的(de)微小變化，均有可能(neng)引起(qi)檢測信(xin)號幅度的(de)波動。點(dian)(dian)狀缺(que)(que)陷的(de)漏(lou)磁(ci)場(chang)分布是(shi)尖峰狀的(de)，當點(dian)(dian)檢探頭正對(dui)(dui)峰頂時，信(xin)號幅度最大，偏離時信(xin)號幅度將(jiang)急劇下降。因此(ci)，用點(dian)(dian)檢探頭去檢測點(dian)(dian)狀缺(que)(que)陷時將(jiang)會產生不穩定(ding)的(de)信(xin)號，導致誤(wu)判(pan)或漏(lou)判(pan)。進(jin)行(xing)檢測設備標(biao)定(ding)時，也難將(jiang)各通(tong)道的(de)靈敏度調(diao)整到一致。
點檢(jian)(jian)探頭檢(jian)(jian)測線狀缺陷(xian)時，很(hen)容易掃查到線狀缺陷(xian)產生(sheng)的“山脈(mo)”狀漏磁場的某一個(ge)縱(zong)斷面，檢(jian)(jian)測信號(hao)幅度(du)將(jiang)正比于(yu)線狀缺陷(xian)的深度(du)。當線狀缺陷(xian)長度(du)大于(yu)一定(ding)值時，設(she)備標(biao)定(ding)或檢(jian)(jian)測信號(hao)的一致性和穩定(ding)性均(jun)較好。
b. 線檢探頭的信號特性
線(xian)檢探頭(tou)(tou)測(ce)量的(de)(de)(de)(de)是探頭(tou)(tou)長度(du)(du)(du)(du)范圍(wei)內的(de)(de)(de)(de)平均磁感應強度(du)(du)(du)(du)或磁通量的(de)(de)(de)(de)變化。與點檢探頭(tou)(tou)相比(bi)，線(xian)檢探頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)(de)輸出信號特(te)性不(bu)但與缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)深(shen)(shen)度(du)(du)(du)(du)有(you)關(guan)，而且與缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)長度(du)(du)(du)(du)有(you)關(guan)，最終與缺(que)陷缺(que)失的(de)(de)(de)(de)截面積(ji)成比(bi)例。這(zhe)類探頭(tou)(tou)不(bu)能(neng)直接獲得(de)與缺(que)陷深(shen)(shen)度(du)(du)(du)(du)相關(guan)的(de)(de)(de)(de)信息，因(yin)為長而淺的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷與短而深(shen)(shen)的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷在檢測(ce)信號幅度(du)(du)(du)(du)上(shang)有(you)可(ke)能(neng)是一(yi)樣(yang)的(de)(de)(de)(de)。
線(xian)檢(jian)探頭(tou)對(dui)點狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)是“滴水不漏”。由于(yu)(yu)線(xian)檢(jian)探頭(tou)的(de)(de)(de)長度遠大于(yu)(yu)點狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)(de)(de)長度，在(zai)檢(jian)測(ce)路徑上，缺陷(xian)相(xiang)對(dui)于(yu)(yu)探頭(tou)位(wei)置變化時，不會影響(xiang)檢(jian)測(ce)信號的(de)(de)(de)幅度，因而一致性較好。
線(xian)檢(jian)探(tan)頭(tou)檢(jian)測線(xian)狀缺陷(xian)時，情(qing)況較為復雜，探(tan)頭(tou)與缺陷(xian)的長度比以及位置關系均會影響信號幅值。下(xia)面舉例分析。
如圖3-7a所示，用(yong)有效長(chang)度為(wei)(wei)25mm的(de)(de)(de)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測25mm長(chang)的(de)(de)(de)刻(ke)槽(cao)。當探(tan)頭(tou)(tou)正對刻(ke)槽(cao)時，獲得(de)最大(da)的(de)(de)(de)信號(hao)幅(fu)值；當探(tan)頭(tou)(tou)與(yu)(yu)刻(ke)槽(cao)的(de)(de)(de)位置錯(cuo)開時，信號(hao)幅(fu)值將隨著探(tan)頭(tou)(tou)與(yu)(yu)缺陷交叉重疊程度的(de)(de)(de)減小而減弱，此種狀(zhuang)(zhuang)態對檢(jian)(jian)(jian)(jian)測是(shi)(shi)不(bu)利的(de)(de)(de)，不(bu)論是(shi)(shi)設備標定還是(shi)(shi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測應用(yong)均(jun)很難獲得(de)一致(zhi)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測信號(hao)。圖3-7中左(zuo)邊的(de)(de)(de)粗(cu)線(xian)段為(wei)(wei)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)，中間的(de)(de)(de)細線(xian)段為(wei)(wei)不(bu)同位置的(de)(de)(de)線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷，右(you)邊為(wei)(wei)不(bu)同探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測信號(hao)幅(fu)度。為(wei)(wei)實現(xian)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)(de)一致(zhi)性檢(jian)(jian)(jian)(jian)測，有如下(xia)兩種做(zuo)法：
①. 減小線(xian)檢(jian)探(tan)頭的有效長度，讓它小于或等于線(xian)狀缺陷長度的一(yi)半，同(tong)時(shi)將(jiang)相鄰檢(jian)測探(tan)頭按50％重疊布(bu)置，如圖3-7b所示。可以看出(chu)，不論缺陷從哪(na)個(ge)路徑通過(guo)探(tan)頭陣列，均可在(zai)某一(yi)檢(jian)測單(dan)元中獲得(de)(de)一(yi)個(ge)最大的信號(hao)(hao)幅值，而在(zai)其他檢(jian)測單(dan)元中得(de)(de)到(dao)較(jiao)小的信號(hao)(hao)幅值。
此時，由于(yu)線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷長(chang)度遠大于(yu)探(tan)頭(tou)長(chang)度，檢(jian)(jian)測探(tan)頭(tou)測量的(de)是漏磁場“山脈”中(zhong)的(de)某一段，如果線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷深(shen)度一致，它可以直接反映(ying)出深(shen)度信(xin)息。將線檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)的(de)長(chang)度再不斷縮小(xiao)，線檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)則變成點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)。此時，在(zai)采用(yong)標準人工缺(que)陷進行設備標定時，任何(he)狀(zhuang)(zhuang)態均可得到一致的(de)檢(jian)(jian)測信(xin)號(hao)。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測方法(fa)測量(liang)的是(shi)線狀缺陷的平均磁感應強度，因而，它反映不了線狀缺陷的深度信息。當缺陷的長度逐漸減小時，則轉變成(cheng)線檢(jian)探(tan)頭對點狀缺陷的檢(jian)測。
3. 面向對象的檢測(ce)探頭設計和(he)選用
在(zai)漏磁(ci)檢(jian)測(ce)中，應該根據具(ju)體(ti)的(de)檢(jian)測(ce)要求(qiu)來設計和(he)(he)選(xuan)擇合適的(de)探(tan)頭(tou)(tou)芯結(jie)構，下(xia)面給出幾種探(tan)頭(tou)(tou)設計和(he)(he)選(xuan)用原(yuan)則。
a. 缺陷的(de)(de)深度(du)(du)檢(jian)測應(ying)該選(xuan)擇點(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou) 點(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)反(fan)映(ying)的(de)(de)是局部磁感應(ying)強度(du)(du)或其變(bian)化。當裂紋較長時(shi)，測點(dian)相(xiang)當于對無(wu)限長矩形槽的(de)(de)探(tan)測，因而，測點(dian)的(de)(de)信號幅度(du)(du)與缺陷深度(du)(du)密切相(xiang)關。但是，當線狀缺陷越(yue)(yue)來越(yue)(yue)短時(shi)，測量的(de)(de)誤(wu)差(cha)也就越(yue)(yue)來越(yue)(yue)大，特別(bie)地(di)，對點(dian)狀缺陷的(de)(de)深度(du)(du)探(tan)測幾乎不(bu)可(ke)能(neng)。
在鋼管漏(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測校樣過(guo)程中，一般(ban)均以通(tong)孔(kong)(kong)作為標(biao)(biao)定試樣上的(de)標(biao)(biao)準缺(que)陷，這(zhe)樣，大、小孔(kong)(kong)的(de)深(shen)度(du)一致(zhi)，孔(kong)(kong)徑尺(chi)寸反映出缺(que)失截面積的(de)線性(xing)變(bian)化(hua)，因而，漏(lou)磁(ci)磁(ci)通(tong)量也(ye)將發生線性(xing)變(bian)化(hua)。對于不通(tong)孔(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)的(de)深(shen)度(du)和(he)直徑均為變(bian)量時(shi)，僅通(tong)過(guo)尋找(zhao)孔(kong)(kong)深(shen)與(yu)孔(kong)(kong)徑的(de)乘積與(yu)信號幅(fu)度(du)關系去反演或推算深(shen)度(du)是(shi)(shi)不可能的(de)。這(zhe)也(ye)是(shi)(shi)僅采(cai)用漏(lou)磁(ci)方法(fa)進行(xing)檢(jian)(jian)測的(de)不足。
b. 缺(que)陷的損(sun)失(shi)截面積檢測應該選擇線(xian)檢探頭(tou) 線(xian)檢探頭(tou)的信號(hao)幅度與缺(que)陷損(sun)失(shi)的截面積成比(bi)例，因(yin)而有(you)較(jiao)好(hao)的測量精度。在有(you)些檢測對象中應用(yong)較(jiao)好(hao)。
c. 缺陷(xian)(xian)的(de)長度(du)檢(jian)測應該用點(dian)檢(jian)探(tan)頭陣列或點(dian)線(xian)組合式探(tan)頭 點(dian)檢(jian)探(tan)頭敏感(gan)(gan)(gan)于(yu)缺陷(xian)(xian)的(de)深(shen)度(du)，當(dang)采(cai)用點(dian)檢(jian)探(tan)頭陣列時，缺陷(xian)(xian)長度(du)覆蓋的(de)通道數(shu)量可以反映其(qi)長度(du)信(xin)息(xi)；另(ling)一方面，當(dang)線(xian)檢(jian)探(tan)頭大(da)于(yu)缺陷(xian)(xian)的(de)長度(du)時，感(gan)(gan)(gan)應的(de)是深(shen)度(du)和長度(du)的(de)共同信(xin)息(xi)，如在其(qi)感(gan)(gan)(gan)應范圍內(nei)并(bing)列布置一個(ge)或多個(ge)點(dian)檢(jian)探(tan)頭感(gan)(gan)(gan)受深(shen)度(du)信(xin)息(xi)，則裂紋的(de)長度(du)就(jiu)可以計算(suan)出來(lai)。
從信號處理角度來看，點線組合式探頭需要(yao)的(de)通道數量較少(shao)，可以同時獲(huo)得缺陷(xian)的(de)深度、長度、缺失截面(mian)積等信息，具(ju)有較強的(de)應用價值。
d. 斜向(xiang)裂紋采用(yong)點(dian)檢探頭陣列檢測(ce) 在漏(lou)磁檢測(ce)中，當缺陷走向(xiang)與磁化場(chang)(chang)方(fang)向(xiang)不垂直時，漏(lou)磁場(chang)(chang)的(de)強(qiang)度(du)將降低，從而(er)獲得較小的(de)信(xin)號(hao)幅值。因此，斜向(xiang)缺陷的(de)檢測(ce)與評估(gu)，需要(yao)首(shou)先檢測(ce)出裂紋的(de)走向(xiang)，并(bing)且根據(ju)走向(xiang)修正(zheng)漏(lou)磁場(chang)(chang)信(xin)號(hao)幅度(du)，再進行深(shen)度(du)判別。
另一方面，當(dang)探頭(tou)掃查路徑垂直于缺(que)陷走向時，檢(jian)測信號幅值(zhi)最大(da)；隨著兩者夾(jia)角(jiao)不(bu)斷(duan)減小，檢(jian)測信號幅值(zhi)逐漸降低(di)，同時信號特(te)性(xing)(xing)也將發生明顯(xian)變(bian)化。此時，線檢(jian)探頭(tou)的(de)檢(jian)測信號特(te)性(xing)(xing)變(bian)化很大(da)，點檢(jian)探頭(tou)的(de)信號幅度(du)波動卻很小。因此，可利用點檢(jian)探頭(tou)陣列(lie)中各通道獲得最大(da)幅值(zhi)的(de)時間(jian)差異來推算缺(que)陷走向，為后(hou)續的(de)信號補(bu)償(chang)與缺(que)陷判別奠(dian)定基礎(chu)，如圖3-8所示。
漏(lou)磁設備的檢(jian)(jian)測(ce)能力與(yu)探頭芯(xin)結構密(mi)切相關(guan)，從(cong)目前(qian)應(ying)(ying)用(yong)情況來看，漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)方法對(dui)內外(wai)部腐蝕坑、內外(wai)部周／軸向裂紋均有(you)較(jiao)(jiao)好的檢(jian)(jian)測(ce)精度，同(tong)時，對(dui)斜向裂紋具有(you)一定的檢(jian)(jian)測(ce)能力。但(dan)是，漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)方法對(dui)微(wei)裂紋，如初(chu)期的疲勞裂紋、熱(re)處理的應(ying)(ying)力裂紋、軋制時的微(wei)機械(xie)裂紋和折疊不太敏(min)感。究其原因，微(wei)裂紋的開口均小于0.05mm，漏(lou)磁場強度較(jiao)(jiao)低，因此，有(you)必要(yao)輔以渦流、超聲等其他檢(jian)(jian)測(ce)方法。
我國進口漏磁(ci)檢(jian)測設備采用的(de)(de)(de)基本都(dou)是基于線圈的(de)(de)(de)線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)，這種(zhong)配(pei)置(zhi)需要的(de)(de)(de)信號通道數(shu)量相對(dui)較少、探(tan)(tan)靴的(de)(de)(de)有效覆蓋范圍(wei)大。但是，這種(zhong)方式對(dui)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)深度評定需要一(yi)定的(de)(de)(de)輔助條件(jian)，而且對(dui)斜(xie)向缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)測靈敏度較低。
在(zai)具體應(ying)用(yong)過程(cheng)中，首先應(ying)分(fen)析檢(jian)測(ce)(ce)要(yao)求(qiu)和對象特點，其次要(yao)認識探(tan)頭(tou)芯的(de)形式(shi)和結構。總的(de)來講(jiang)，采(cai)用(yong)線檢(jian)探(tan)頭(tou)去檢(jian)測(ce)(ce)線狀缺(que)陷的(de)深度信息和采(cai)用(yong)點檢(jian)探(tan)頭(tou)去評(ping)定點狀缺(que)陷的(de)長(chang)度信息均是不現實的(de)；高精度的(de)檢(jian)測(ce)(ce)需要(yao)以大量(liang)的(de)獨(du)立測(ce)(ce)量(liang)通(tong)道(dao)和信號(hao)處理系(xi)統為(wei)代價，因此，應(ying)根據(ju)檢(jian)測(ce)(ce)目標(biao)綜(zong)合權衡。
