自動化不銹鋼(gang)管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣(zhen)列檢(jian)測探頭是磁(ci)(ci)場傳感器的載體和組(zu)合，是漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測信號的收集器。隨(sui)著漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測應用的不(bu)斷(duan)深入和檢(jian)測要求的逐步提(ti)高，除了磁(ci)(ci)化問題，另一個核心就是漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測探頭的設計。若探頭性能不(bu)好(hao)或(huo)者不(bu)合適，則(ze)會出(chu)現漏(lou)(lou)判或(huo)者誤判，嚴重影響(xiang)漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測的可靠(kao)性。
另(ling)一方面，沒(mei)有一種探(tan)(tan)頭是萬能的(de)(de)。由于自然缺陷(xian)的(de)(de)形(xing)態千變萬化(hua)，檢(jian)(jian)測探(tan)(tan)頭必然存在局限(xian)性(xing)，漏判或誤判的(de)(de)情況在檢(jian)(jian)測實踐中時有發(fa)生(sheng)。下(xia)面對檢(jian)(jian)測探(tan)(tan)頭的(de)(de)內部(bu)結構和檢(jian)(jian)測特性(xing)進行分析。
一、漏(lou)磁檢測探頭的結構形式
目前，最具代表(biao)性的不(bu)銹鋼管漏磁檢測(ce)傳感(gan)器有兩種：霍爾元(yuan)件和感(gan)應線圈，尤其是集成霍爾元(yuan)件和光刻平(ping)面線圈。為(wei)了獲得(de)較高的磁場測(ce)量空間分辨力和相對寬廣的掃查范圍(wei)，檢測(ce)探頭(tou)芯結構有多種形(xing)式。
1. 點(dian)(dian)檢測(ce)(ce)(ce)形式 在檢測(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)頭(tou)中(zhong)，對(dui)(dui)某一點(dian)(dian)上或微小區域的漏磁(ci)場測(ce)(ce)(ce)量，并且(qie)每(mei)個(ge)(ge)測(ce)(ce)(ce)點(dian)(dian)對(dui)(dui)應于一個(ge)(ge)獨立的信號(hao)通道，如(ru)圖3-6a所示，以下簡(jian)稱(cheng)為點(dian)(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)。很明顯，點(dian)(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)中(zhong)每(mei)個(ge)(ge)點(dian)(dian)能(neng)夠掃查的檢測(ce)(ce)(ce)范圍很小，但空(kong)間(jian)分辨力高(gao)，如(ru)單個(ge)(ge)霍爾元件的敏(min)感面(mian)積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢用檢測(ce)(ce)(ce)線圈也(ye)可(ke)做到(dao)φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測形式(shi) 在檢(jian)(jian)(jian)測探頭中，對一(yi)條(tiao)(tiao)線(xian)(xian)(xian)(xian)上的(de)(de)漏(lou)磁(ci)場進(jin)行綜(zong)合(he)測量，如(ru)圖3-6b所示，以下簡稱為線(xian)(xian)(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探頭。例如(ru)，用(yong)感(gan)應(ying)線(xian)(xian)(xian)(xian)圈(quan)(quan)檢(jian)(jian)(jian)測時(shi)，將(jiang)線(xian)(xian)(xian)(xian)圈(quan)(quan)做成(cheng)條(tiao)(tiao)狀，則它感(gan)應(ying)的(de)(de)是(shi)線(xian)(xian)(xian)(xian)圈(quan)(quan)掃查(cha)路徑對應(ying)空間范圍內的(de)(de)漏(lou)磁(ci)通的(de)(de)變化。用(yong)霍爾元(yuan)件(jian)檢(jian)(jian)(jian)測時(shi)，采用(yong)線(xian)(xian)(xian)(xian)陣排列，將(jiang)多個元(yuan)件(jian)檢(jian)(jian)(jian)測信(xin)號用(yong)加(jia)法器疊加(jia)后輸出單個通道信(xin)號，則該(gai)信(xin)號反映的(de)(de)是(shi)霍爾元(yuan)件(jian)線(xian)(xian)(xian)(xian)陣長度內的(de)(de)磁(ci)感(gan)應(ying)強度的(de)(de)平均(jun)值。
在漏磁(ci)檢測中，上述兩種形(xing)(xing)式是(shi)最基本的(de)形(xing)(xing)式，由(you)此可以組(zu)合成多(duo)種形(xing)(xing)式的(de)探頭，如圖3-6c所(suo)(suo)示的(de)平面(mian)內的(de)面(mian)陣列探頭，以及圖3-6d所(suo)(suo)示的(de)多(duo)個(ge)平面(mian)上的(de)立體陣列探頭。
二、漏磁檢(jian)測探頭的(de)檢(jian)測特性
1. 缺(que)陷類型(xing)
不銹鋼(gang)管在進行漏磁檢測方法和(he)設備(bei)的考核時，常采用(yong)機加工或電火花方式刻制標準(zhun)(zhun)人工缺(que)陷，自然缺(que)陷可(ke)表(biao)達(da)成它們的組合形式。為便于分析和(he)精確(que)評估，將標準(zhun)(zhun)缺(que)陷分成下列三(san)類(lei)。
（1）點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian) 點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)的面(mian)積小(xiao)，集中(zhong)在一點(dian)或(huo)小(xiao)圈內，如標準缺陷(xian)(xian)里的通(tong)孔，自然缺陷(xian)(xian)里的蝕坑、斑(ban)點(dian)、氣孔等，它們產生的漏磁場是一個集中(zhong)的點(dian)團狀(zhuang)場，分布(bu)范圍(wei)小(xiao)。
（2）線狀(zhuang)缺(que)陷(xian) 線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的寬長(chang)比很小，形成一條線，如(ru)標準缺(que)陷(xian)里的矩形刻槽、自然缺(que)陷(xian)里的裂紋等，它們產(chan)生的漏磁場是(shi)沿(yan)線條的帶狀(zhuang)場。
（3）體(ti)狀(zhuang)缺陷 體(ti)狀(zhuang)缺陷的(de)長、寬、深(shen)尺寸(cun)均較大(da)，形成坑或窩，如(ru)標準(zhun)缺陷中的(de)大(da)不(bu)通孔、自(zi)然缺陷里的(de)片狀(zhuang)腐蝕等，它們產生(sheng)的(de)漏磁場分布范圍(wei)廣。
2. 不同結構探頭的檢測(ce)特性
不(bu)銹鋼(gang)管在漏磁檢測中，特別要強調空間(jian)和方向(xiang)的概念。因為(wei)，漏磁場是(shi)空間(jian)場，且(qie)具有方向(xiang)性；漏磁檢測信(xin)(xin)(xin)號(hao)是(shi)時間(jian)域(yu)的，且(qie)沒有相位信(xin)(xin)(xin)息；不(bu)僅(jin)檢測探頭(tou)具有敏感方向(xiang)，而且(qie)檢測探頭(tou)的掃查路徑也具有方向(xiang)性，不(bu)同方向(xiang)均(jun)會對檢測信(xin)(xin)(xin)號(hao)及其特征產生(sheng)影響。
另一方面(mian)，應該特別注意缺(que)陷漏(lou)磁場(chang)(chang)(chang)的(de)(de)(de)(de)表征(zheng)形式，在這里，漏(lou)磁場(chang)(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du)(du)(du)(du)和漏(lou)磁場(chang)(chang)(chang)梯(ti)度(du)(du)(du)(du)存在著(zhu)本(ben)質的(de)(de)(de)(de)不同。霍爾(er)元件(jian)(jian)(jian)和感應線(xian)(xian)圈兩種器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)應用也有著(zhu)根本(ben)的(de)(de)(de)(de)區別。霍爾(er)元件(jian)(jian)(jian)可以測(ce)量(liang)(liang)空(kong)間某點上的(de)(de)(de)(de)磁場(chang)(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du)(du)(du)(du)，而感應線(xian)(xian)圈卻無法實(shi)現(xian)；感應線(xian)(xian)圈感應的(de)(de)(de)(de)是空(kong)間一定范圍(wei)內(nei)的(de)(de)(de)(de)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)變(bian)化程度(du)(du)(du)(du)，相反，霍爾(er)元件(jian)(jian)(jian)不可以測(ce)量(liang)(liang)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)變(bian)化，它(ta)測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)是一定空(kong)間范圍(wei)內(nei)的(de)(de)(de)(de)磁感應強(qiang)(qiang)度(du)(du)(du)(du)的(de)(de)(de)(de)平(ping)均(jun)值。
下面將逐一(yi)分析兩種基本(ben)探頭(tou)形式對不同(tong)類(lei)型(xing)缺陷的(de)檢測(ce)信號特(te)性。
a. 點(dian)檢探頭的信號特性
點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)測量(liang)的(de)(de)是空間某點(dian)上的(de)(de)漏(lou)磁(ci)感(gan)應強度或(huo)磁(ci)通(tong)量(liang)的(de)(de)變化。點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)對(dui)點(dian)狀缺陷(xian)的(de)(de)檢(jian)(jian)測是“針(zhen)尖對(dui)麥(mai)芒”，空間相對(dui)位置(zhi)的(de)(de)微小(xiao)變化，均有(you)可能(neng)引起檢(jian)(jian)測信號幅(fu)(fu)度的(de)(de)波動(dong)。點(dian)狀缺陷(xian)的(de)(de)漏(lou)磁(ci)場分布(bu)是尖峰狀的(de)(de)，當(dang)點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)正對(dui)峰頂(ding)時，信號幅(fu)(fu)度最(zui)大(da)，偏離時信號幅(fu)(fu)度將(jiang)急劇下降。因(yin)此，用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)去檢(jian)(jian)測點(dian)狀缺陷(xian)時將(jiang)會產生不穩(wen)定(ding)的(de)(de)信號，導(dao)致(zhi)誤判或(huo)漏(lou)判。進行檢(jian)(jian)測設(she)備標定(ding)時，也難將(jiang)各通(tong)道(dao)的(de)(de)靈(ling)敏度調整(zheng)到一(yi)致(zhi)。
點檢探頭檢測線狀(zhuang)(zhuang)缺陷時，很容易掃查到線狀(zhuang)(zhuang)缺陷產生的(de)(de)(de)“山(shan)脈”狀(zhuang)(zhuang)漏磁場的(de)(de)(de)某一個縱斷面(mian)，檢測信號幅度(du)將正(zheng)比于(yu)線狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)深度(du)。當線狀(zhuang)(zhuang)缺陷長(chang)度(du)大(da)于(yu)一定(ding)值時，設(she)備標定(ding)或檢測信號的(de)(de)(de)一致(zhi)性(xing)和穩定(ding)性(xing)均(jun)較好。
b. 線檢探頭的信號特性
線檢(jian)探頭(tou)(tou)測(ce)量(liang)的(de)(de)是(shi)探頭(tou)(tou)長(chang)度范圍內的(de)(de)平(ping)均磁感應強度或磁通量(liang)的(de)(de)變化。與(yu)(yu)點檢(jian)探頭(tou)(tou)相比(bi)，線檢(jian)探頭(tou)(tou)的(de)(de)輸出信號特性不(bu)但(dan)與(yu)(yu)缺(que)陷的(de)(de)深(shen)度有關，而(er)且與(yu)(yu)缺(que)陷的(de)(de)長(chang)度有關，最終與(yu)(yu)缺(que)陷缺(que)失的(de)(de)截面積成比(bi)例(li)。這類(lei)探頭(tou)(tou)不(bu)能(neng)直接(jie)獲得與(yu)(yu)缺(que)陷深(shen)度相關的(de)(de)信息，因為長(chang)而(er)淺(qian)的(de)(de)缺(que)陷與(yu)(yu)短而(er)深(shen)的(de)(de)缺(que)陷在檢(jian)測(ce)信號幅度上有可(ke)能(neng)是(shi)一樣的(de)(de)。
線檢探頭(tou)對點(dian)狀(zhuang)缺陷的檢測(ce)(ce)是“滴水不漏(lou)”。由于(yu)(yu)線檢探頭(tou)的長(chang)度(du)遠大于(yu)(yu)點(dian)狀(zhuang)缺陷的長(chang)度(du)，在檢測(ce)(ce)路(lu)徑上，缺陷相對于(yu)(yu)探頭(tou)位置變化時，不會(hui)影響(xiang)檢測(ce)(ce)信號的幅度(du)，因而一致性較好。
線檢(jian)探(tan)頭檢(jian)測(ce)線狀缺(que)陷(xian)時，情況(kuang)較為復雜，探(tan)頭與缺(que)陷(xian)的長(chang)度比以及位置關(guan)系均會影響信號(hao)幅值。下面舉例分析。
如圖3-7a所(suo)示(shi)，用有效長度為(wei)25mm的(de)(de)(de)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)25mm長的(de)(de)(de)刻(ke)(ke)槽。當(dang)探(tan)(tan)頭(tou)正對刻(ke)(ke)槽時，獲得最大的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)幅值；當(dang)探(tan)(tan)頭(tou)與(yu)刻(ke)(ke)槽的(de)(de)(de)位置(zhi)錯開時，信(xin)號(hao)幅值將隨(sui)著探(tan)(tan)頭(tou)與(yu)缺(que)(que)陷交叉重疊程度的(de)(de)(de)減(jian)小而減(jian)弱，此種狀態(tai)對檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是(shi)不利的(de)(de)(de)，不論是(shi)設(she)備(bei)標定還是(shi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)應用均很難獲得一(yi)致的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)。圖3-7中左邊(bian)的(de)(de)(de)粗線(xian)段為(wei)線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)，中間的(de)(de)(de)細線(xian)段為(wei)不同(tong)位置(zhi)的(de)(de)(de)線(xian)狀缺(que)(que)陷，右邊(bian)為(wei)不同(tong)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)幅度。為(wei)實(shi)現線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)(de)一(yi)致性檢(jian)(jian)(jian)測(ce)，有如下兩種做法：
①. 減小線檢(jian)探(tan)頭(tou)的有效長(chang)度，讓它小于(yu)或等于(yu)線狀缺陷長(chang)度的一(yi)半(ban)，同時將相鄰(lin)檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)按50％重疊布置，如圖3-7b所(suo)示。可(ke)以看出，不論缺陷從(cong)哪個(ge)路(lu)徑通過探(tan)頭(tou)陣列，均可(ke)在某一(yi)檢(jian)測(ce)單元中獲得一(yi)個(ge)最大(da)的信號(hao)幅值(zhi)(zhi)，而在其他檢(jian)測(ce)單元中得到(dao)較小的信號(hao)幅值(zhi)(zhi)。
此時，由于(yu)(yu)線狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)長度(du)遠大于(yu)(yu)探(tan)(tan)頭長度(du)，檢(jian)測(ce)探(tan)(tan)頭測(ce)量的(de)(de)(de)是(shi)漏磁場“山(shan)脈”中的(de)(de)(de)某一(yi)段，如果線狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)深度(du)一(yi)致(zhi)，它(ta)可以直接反(fan)映出深度(du)信息(xi)。將線檢(jian)探(tan)(tan)頭的(de)(de)(de)長度(du)再不斷(duan)縮小，線檢(jian)探(tan)(tan)頭則變成(cheng)點檢(jian)探(tan)(tan)頭。此時，在采用(yong)標準人(ren)工缺陷(xian)(xian)進行設備標定時，任何狀(zhuang)態(tai)均(jun)可得到一(yi)致(zhi)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測(ce)方(fang)法測(ce)量的(de)(de)是線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)平均(jun)磁(ci)感應(ying)強度(du)(du)，因而，它反(fan)映不了線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)深度(du)(du)信息。當缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)長度(du)(du)逐(zhu)漸減(jian)小時，則轉(zhuan)變成(cheng)線(xian)檢(jian)探頭對(dui)點(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)檢(jian)測(ce)。
3. 面向對象的檢測探頭(tou)設計和選用
在漏(lou)磁檢測中，應(ying)該(gai)根據具體(ti)的(de)檢測要求來設計(ji)(ji)和(he)選擇合適(shi)的(de)探頭芯結構(gou)，下面(mian)給出幾(ji)種探頭設計(ji)(ji)和(he)選用原(yuan)則。
a. 缺陷(xian)(xian)的(de)深度(du)檢(jian)測(ce)應(ying)(ying)該(gai)選擇點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou) 點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)反映的(de)是局部(bu)磁感應(ying)(ying)強(qiang)度(du)或其變(bian)化。當(dang)裂紋較長時(shi)，測(ce)點(dian)相當(dang)于對(dui)無(wu)限長矩(ju)形槽的(de)探(tan)(tan)測(ce)，因而(er)，測(ce)點(dian)的(de)信號幅(fu)度(du)與缺陷(xian)(xian)深度(du)密(mi)切相關。但(dan)是，當(dang)線狀缺陷(xian)(xian)越(yue)來(lai)越(yue)短時(shi)，測(ce)量的(de)誤差也就(jiu)越(yue)來(lai)越(yue)大，特別地，對(dui)點(dian)狀缺陷(xian)(xian)的(de)深度(du)探(tan)(tan)測(ce)幾乎不可能。
在鋼管漏磁(ci)檢(jian)測校樣過程(cheng)中，一般均(jun)以通孔(kong)作為標定試樣上的(de)標準缺陷，這(zhe)樣，大、小孔(kong)的(de)深(shen)(shen)度一致，孔(kong)徑(jing)(jing)尺寸(cun)反映出(chu)缺失截面積的(de)線性變(bian)(bian)化，因而(er)，漏磁(ci)磁(ci)通量也(ye)將發生(sheng)線性變(bian)(bian)化。對(dui)于不通孔(kong)，當(dang)孔(kong)的(de)深(shen)(shen)度和(he)直(zhi)徑(jing)(jing)均(jun)為變(bian)(bian)量時(shi)，僅(jin)通過尋找孔(kong)深(shen)(shen)與孔(kong)徑(jing)(jing)的(de)乘積與信號幅度關系去反演或(huo)推算深(shen)(shen)度是(shi)(shi)不可能的(de)。這(zhe)也(ye)是(shi)(shi)僅(jin)采用漏磁(ci)方法進行檢(jian)測的(de)不足(zu)。
b. 缺陷的(de)損失截面(mian)積檢(jian)測應該選擇線檢(jian)探頭 線檢(jian)探頭的(de)信號幅度(du)與(yu)缺陷損失的(de)截面(mian)積成比例，因而有較(jiao)好的(de)測量精度(du)。在有些檢(jian)測對象中應用(yong)較(jiao)好。
c. 缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)長(chang)度(du)檢(jian)測應該用(yong)點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭陣列或點(dian)(dian)線組合式(shi)探(tan)頭 點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭敏感于缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)深度(du)，當采用(yong)點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭陣列時，缺(que)陷(xian)(xian)(xian)長(chang)度(du)覆(fu)蓋的(de)通道數(shu)量可以反映(ying)其長(chang)度(du)信(xin)息(xi)(xi)；另一(yi)方(fang)面(mian)，當線檢(jian)探(tan)頭大于缺(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)長(chang)度(du)時，感應的(de)是深度(du)和長(chang)度(du)的(de)共同(tong)信(xin)息(xi)(xi)，如在其感應范圍內并列布置一(yi)個(ge)或多個(ge)點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭感受深度(du)信(xin)息(xi)(xi)，則裂紋的(de)長(chang)度(du)就可以計算出(chu)來。
從(cong)信(xin)(xin)號(hao)處理角度(du)來看，點線組合式探頭需要(yao)的通道數(shu)量較少(shao)，可以同時獲得缺陷的深度(du)、長度(du)、缺失截面積(ji)等信(xin)(xin)息，具有較強的應用價值。
d. 斜(xie)(xie)向(xiang)(xiang)(xiang)裂紋(wen)采用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭陣列檢(jian)(jian)測 在漏(lou)磁檢(jian)(jian)測中(zhong)，當缺陷走(zou)向(xiang)(xiang)(xiang)與磁化場方向(xiang)(xiang)(xiang)不(bu)垂(chui)直(zhi)時，漏(lou)磁場的(de)強度(du)將降低，從而獲得較小的(de)信(xin)號幅值。因(yin)此，斜(xie)(xie)向(xiang)(xiang)(xiang)缺陷的(de)檢(jian)(jian)測與評估(gu)，需(xu)要首先檢(jian)(jian)測出裂紋(wen)的(de)走(zou)向(xiang)(xiang)(xiang)，并且根據(ju)走(zou)向(xiang)(xiang)(xiang)修正漏(lou)磁場信(xin)號幅度(du)，再進(jin)行深(shen)度(du)判別(bie)。
另一方面(mian)，當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)掃(sao)查路(lu)徑(jing)垂直于(yu)缺陷走向時(shi)(shi)，檢測信(xin)號(hao)幅值最大；隨著兩者夾角不(bu)斷減小，檢測信(xin)號(hao)幅值逐漸(jian)降(jiang)低，同時(shi)(shi)信(xin)號(hao)特性也將發生明顯變化。此時(shi)(shi)，線檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)檢測信(xin)號(hao)特性變化很大，點檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)信(xin)號(hao)幅度波動(dong)卻很小。因此，可利用點檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)陣列中各通(tong)道獲(huo)得最大幅值的(de)時(shi)(shi)間(jian)差異來推算(suan)缺陷走向，為后續的(de)信(xin)號(hao)補償與缺陷判(pan)別(bie)奠定(ding)基礎，如圖3-8所示。
漏磁(ci)設備的檢(jian)(jian)測能力(li)與探(tan)頭芯結(jie)構密(mi)切相關，從(cong)目前應用情況來看，漏磁(ci)檢(jian)(jian)測方(fang)法(fa)對內(nei)外(wai)部(bu)腐蝕坑(keng)、內(nei)外(wai)部(bu)周／軸向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)均(jun)有較好的檢(jian)(jian)測精度(du)，同時，對斜向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)具有一定(ding)的檢(jian)(jian)測能力(li)。但(dan)是，漏磁(ci)檢(jian)(jian)測方(fang)法(fa)對微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)，如初期(qi)的疲勞裂(lie)(lie)紋(wen)、熱處理的應力(li)裂(lie)(lie)紋(wen)、軋制時的微(wei)機械裂(lie)(lie)紋(wen)和折疊(die)不太敏感。究其(qi)原因，微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)的開(kai)口均(jun)小于0.05mm，漏磁(ci)場強度(du)較低，因此，有必要輔以渦流、超聲等(deng)其(qi)他檢(jian)(jian)測方(fang)法(fa)。
我國進口漏磁檢(jian)測設備采用的(de)基(ji)本都是(shi)基(ji)于線(xian)圈(quan)的(de)線(xian)檢(jian)探頭，這種配置(zhi)需(xu)要(yao)的(de)信號通(tong)道數(shu)量相對(dui)較少、探靴的(de)有效覆蓋范(fan)圍大。但是(shi)，這種方(fang)式對(dui)缺陷的(de)深度評定(ding)需(xu)要(yao)一定(ding)的(de)輔(fu)助(zhu)條件，而且對(dui)斜向(xiang)缺陷的(de)檢(jian)測靈敏(min)度較低。
在具體(ti)應用過程中，首先應分析檢(jian)測(ce)要(yao)(yao)求和(he)(he)對象特點，其次要(yao)(yao)認識(shi)探頭(tou)(tou)芯的(de)形式和(he)(he)結構。總的(de)來講(jiang)，采(cai)用線檢(jian)探頭(tou)(tou)去檢(jian)測(ce)線狀缺(que)陷(xian)的(de)深度信(xin)息和(he)(he)采(cai)用點檢(jian)探頭(tou)(tou)去評(ping)定點狀缺(que)陷(xian)的(de)長度信(xin)息均是不(bu)現實(shi)的(de)；高精度的(de)檢(jian)測(ce)需(xu)要(yao)(yao)以大量(liang)的(de)獨立(li)測(ce)量(liang)通道(dao)和(he)(he)信(xin)號處理系統為(wei)代價，因此，應根據檢(jian)測(ce)目標綜合權衡。
