自動化不銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭是磁(ci)(ci)場傳感器(qi)的(de)(de)(de)(de)載體和組合(he)，是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)信號的(de)(de)(de)(de)收集器(qi)。隨著漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)應(ying)用的(de)(de)(de)(de)不斷深入和檢(jian)(jian)測(ce)要(yao)求的(de)(de)(de)(de)逐步(bu)提高，除了磁(ci)(ci)化問(wen)題，另一(yi)個(ge)核心就(jiu)是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭的(de)(de)(de)(de)設計。若探(tan)頭性能不好或(huo)(huo)者(zhe)不合(he)適，則會出現(xian)漏(lou)判或(huo)(huo)者(zhe)誤判，嚴重影響(xiang)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)(de)(de)可靠(kao)性。
另(ling)一方面(mian)，沒有一種探頭(tou)是萬能的(de)。由于自然缺陷(xian)的(de)形態(tai)千變萬化，檢(jian)測(ce)探頭(tou)必然存在局(ju)限性(xing)，漏判或誤判的(de)情況(kuang)在檢(jian)測(ce)實(shi)踐(jian)中時有發(fa)生。下面(mian)對檢(jian)測(ce)探頭(tou)的(de)內部結構和檢(jian)測(ce)特性(xing)進(jin)行分析。
一、漏(lou)磁檢測探(tan)頭(tou)的結構(gou)形式
目前，最(zui)具(ju)代(dai)表性的不銹(xiu)鋼管(guan)漏磁檢測傳感器有兩種：霍(huo)爾(er)元件和感應線圈，尤其是集成霍(huo)爾(er)元件和光刻平面線圈。為了獲得較高的磁場測量(liang)空間分(fen)辨(bian)力和相對寬廣的掃查范圍，檢測探頭芯結構(gou)有多種形(xing)式。
1. 點(dian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)形式 在檢(jian)測(ce)(ce)(ce)探(tan)頭(tou)中(zhong)，對某一點(dian)上或微(wei)小區域的(de)(de)(de)漏磁場測(ce)(ce)(ce)量(liang)，并且每(mei)個測(ce)(ce)(ce)點(dian)對應(ying)于一個獨(du)立的(de)(de)(de)信號通道，如圖3-6a所示，以下簡稱為點(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)。很(hen)明顯，點(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)中(zhong)每(mei)個點(dian)能夠掃查(cha)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)范圍(wei)很(hen)小，但空間分辨力高(gao)，如單個霍爾元(yuan)件的(de)(de)(de)敏感面(mian)積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)(ce)(ce)線圈也可做到φ1mm內。
2. 線(xian)檢測(ce)(ce)形式(shi) 在(zai)檢測(ce)(ce)探(tan)頭中，對一條線(xian)上(shang)的(de)漏磁場進行綜合測(ce)(ce)量，如(ru)圖3-6b所示，以下簡(jian)稱(cheng)為線(xian)檢探(tan)頭。例(li)如(ru)，用感(gan)應線(xian)圈(quan)(quan)檢測(ce)(ce)時，將線(xian)圈(quan)(quan)做成(cheng)條狀，則(ze)它感(gan)應的(de)是線(xian)圈(quan)(quan)掃查(cha)路徑(jing)對應空間范圍內(nei)的(de)漏磁通的(de)變化。用霍(huo)爾元(yuan)件檢測(ce)(ce)時，采用線(xian)陣排(pai)列，將多(duo)個元(yuan)件檢測(ce)(ce)信號(hao)用加法器疊加后輸出單(dan)個通道信號(hao)，則(ze)該信號(hao)反映的(de)是霍(huo)爾元(yuan)件線(xian)陣長度內(nei)的(de)磁感(gan)應強(qiang)度的(de)平均(jun)值。
在漏磁檢測中，上述(shu)兩種形式是最基(ji)本(ben)的(de)形式，由(you)此(ci)可(ke)以組(zu)合成(cheng)多種形式的(de)探頭(tou)，如(ru)圖3-6c所示的(de)平(ping)面內的(de)面陣(zhen)列探頭(tou)，以及(ji)圖3-6d所示的(de)多個平(ping)面上的(de)立體(ti)陣(zhen)列探頭(tou)。
二、漏磁檢測探頭的檢測特性
1. 缺陷(xian)類(lei)型
不銹鋼管在進行漏磁(ci)檢測方法和設(she)備的考(kao)核時，常采用機加工或(huo)電火花方式刻(ke)制標準(zhun)人工缺陷(xian)，自然缺陷(xian)可表達成它(ta)們(men)的組合形式。為(wei)便于分析(xi)和精確(que)評估，將(jiang)標準(zhun)缺陷(xian)分成下列(lie)三類。
（1）點(dian)(dian)狀缺陷(xian)(xian)(xian) 點(dian)(dian)狀缺陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)面積小(xiao)，集中在一(yi)點(dian)(dian)或小(xiao)圈內(nei)，如標準缺陷(xian)(xian)(xian)里(li)的(de)(de)(de)通孔(kong)(kong)，自然(ran)缺陷(xian)(xian)(xian)里(li)的(de)(de)(de)蝕坑、斑點(dian)(dian)、氣孔(kong)(kong)等，它們產生(sheng)的(de)(de)(de)漏(lou)磁場是一(yi)個(ge)集中的(de)(de)(de)點(dian)(dian)團狀場，分布范圍(wei)小(xiao)。
（2）線狀缺(que)陷 線狀缺(que)陷的(de)寬(kuan)長比很小，形成一(yi)條(tiao)線，如標準缺(que)陷里(li)的(de)矩(ju)形刻(ke)槽、自然缺(que)陷里(li)的(de)裂(lie)紋等，它(ta)們(men)產生的(de)漏磁場(chang)是沿(yan)線條(tiao)的(de)帶狀場(chang)。
（3）體狀(zhuang)缺陷(xian) 體狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)長、寬、深尺(chi)寸均較大(da)，形(xing)成坑或窩，如標準缺陷(xian)中(zhong)的(de)大(da)不通(tong)孔、自然缺陷(xian)里(li)的(de)片狀(zhuang)腐蝕等，它們產生的(de)漏磁場分布范圍廣(guang)。
2. 不同結構探(tan)頭的(de)檢(jian)測特性
不銹鋼管在漏磁(ci)檢(jian)(jian)測中，特別要強調(diao)空間和(he)方(fang)向的(de)概(gai)念。因為，漏磁(ci)場(chang)是(shi)(shi)空間場(chang)，且(qie)(qie)具(ju)(ju)有(you)方(fang)向性；漏磁(ci)檢(jian)(jian)測信(xin)號是(shi)(shi)時間域(yu)的(de)，且(qie)(qie)沒有(you)相位信(xin)息；不僅檢(jian)(jian)測探頭具(ju)(ju)有(you)敏(min)感方(fang)向，而且(qie)(qie)檢(jian)(jian)測探頭的(de)掃查路徑也具(ju)(ju)有(you)方(fang)向性，不同方(fang)向均會對檢(jian)(jian)測信(xin)號及其特征產生(sheng)影響。
另(ling)一方面，應該特別注意缺陷(xian)漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)的(de)(de)(de)(de)表征形式，在這里，漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)強(qiang)(qiang)度(du)和(he)漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)梯度(du)存在著(zhu)本質的(de)(de)(de)(de)不(bu)同。霍(huo)爾元(yuan)件(jian)和(he)感應線(xian)圈兩(liang)種器件(jian)的(de)(de)(de)(de)應用也有著(zhu)根本的(de)(de)(de)(de)區別。霍(huo)爾元(yuan)件(jian)可以(yi)(yi)測量空間(jian)某(mou)點(dian)上的(de)(de)(de)(de)磁(ci)場(chang)強(qiang)(qiang)度(du)，而感應線(xian)圈卻無法實(shi)現；感應線(xian)圈感應的(de)(de)(de)(de)是空間(jian)一定范圍(wei)內的(de)(de)(de)(de)磁(ci)通(tong)量的(de)(de)(de)(de)變化程(cheng)度(du)，相反，霍(huo)爾元(yuan)件(jian)不(bu)可以(yi)(yi)測量磁(ci)通(tong)量的(de)(de)(de)(de)變化，它(ta)測量的(de)(de)(de)(de)是一定空間(jian)范圍(wei)內的(de)(de)(de)(de)磁(ci)感應強(qiang)(qiang)度(du)的(de)(de)(de)(de)平(ping)均值。
下(xia)面將逐一分析(xi)兩種(zhong)基本探頭形式對(dui)不(bu)同類(lei)型(xing)缺陷的檢測信(xin)號特性(xing)。
a. 點檢(jian)探頭的信號特性
點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)測(ce)量(liang)(liang)的(de)是空(kong)間某(mou)點(dian)(dian)(dian)上的(de)漏磁感應強度或磁通量(liang)(liang)的(de)變化。點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)對點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)是“針尖對麥芒”，空(kong)間相(xiang)對位置(zhi)的(de)微小(xiao)變化，均有可能引起檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號幅度的(de)波動。點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷的(de)漏磁場分(fen)布是尖峰狀(zhuang)(zhuang)的(de)，當點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)正(zheng)對峰頂時，信(xin)號幅度最大(da)，偏離(li)時信(xin)號幅度將(jiang)急劇下(xia)降(jiang)。因此，用點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)去檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷時將(jiang)會產(chan)生不穩定的(de)信(xin)號，導(dao)致誤判或漏判。進(jin)行檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)設備標定時，也難(nan)將(jiang)各通道的(de)靈敏(min)度調整到一致。
點檢(jian)探頭檢(jian)測線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷時(shi)，很容(rong)易掃查(cha)到線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷產(chan)生(sheng)的“山脈”狀(zhuang)(zhuang)漏磁(ci)場的某一個縱斷面(mian)，檢(jian)測信號(hao)幅度(du)將正比(bi)于(yu)線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷的深度(du)。當線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷長度(du)大(da)于(yu)一定值(zhi)時(shi)，設備標定或檢(jian)測信號(hao)的一致性和穩(wen)定性均較好。
b. 線檢探頭的信號特性
線檢探頭(tou)測量的(de)是探頭(tou)長(chang)度(du)范圍(wei)內(nei)的(de)平均磁感(gan)應強度(du)或磁通量的(de)變(bian)化(hua)。與(yu)點檢探頭(tou)相比，線檢探頭(tou)的(de)輸(shu)出(chu)信(xin)號特性不但與(yu)缺陷(xian)的(de)深(shen)度(du)有關，而且(qie)與(yu)缺陷(xian)的(de)長(chang)度(du)有關，最終與(yu)缺陷(xian)缺失的(de)截面(mian)積成比例。這類探頭(tou)不能(neng)直接獲得與(yu)缺陷(xian)深(shen)度(du)相關的(de)信(xin)息，因(yin)為(wei)長(chang)而淺的(de)缺陷(xian)與(yu)短而深(shen)的(de)缺陷(xian)在(zai)檢測信(xin)號幅度(du)上有可能(neng)是一樣的(de)。
線檢(jian)探頭對(dui)(dui)點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)的(de)檢(jian)測是“滴水(shui)不漏”。由(you)于(yu)線檢(jian)探頭的(de)長度遠大于(yu)點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)的(de)長度，在檢(jian)測路徑(jing)上，缺陷(xian)(xian)相(xiang)對(dui)(dui)于(yu)探頭位置(zhi)變化時(shi)，不會(hui)影響檢(jian)測信號的(de)幅度，因而一致性較好。
線檢探頭檢測線狀缺(que)陷(xian)時，情況(kuang)較為復雜，探頭與缺(que)陷(xian)的長度比以及位(wei)置(zhi)關系均會(hui)影響信號幅值。下面舉例分析。
如圖3-7a所(suo)示，用有效長(chang)度為(wei)(wei)25mm的(de)線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)25mm長(chang)的(de)刻(ke)(ke)槽(cao)。當(dang)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)正對刻(ke)(ke)槽(cao)時，獲(huo)得(de)最大的(de)信(xin)號幅(fu)值；當(dang)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)與(yu)刻(ke)(ke)槽(cao)的(de)位置錯開時，信(xin)號幅(fu)值將隨著探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)與(yu)缺(que)陷(xian)交(jiao)叉重疊程度的(de)減(jian)小而減(jian)弱，此種狀態對檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)是不(bu)(bu)利的(de)，不(bu)(bu)論是設備(bei)標定(ding)還是檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)應用均很難獲(huo)得(de)一(yi)致的(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號。圖3-7中(zhong)左邊的(de)粗線(xian)(xian)段(duan)為(wei)(wei)線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)，中(zhong)間的(de)細線(xian)(xian)段(duan)為(wei)(wei)不(bu)(bu)同位置的(de)線(xian)(xian)狀缺(que)陷(xian)，右邊為(wei)(wei)不(bu)(bu)同探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)的(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號幅(fu)度。為(wei)(wei)實現線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)的(de)一(yi)致性檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)，有如下兩種做法：
①. 減(jian)小(xiao)線檢探(tan)頭(tou)(tou)的(de)有效長度(du)，讓(rang)它小(xiao)于或等(deng)于線狀(zhuang)缺(que)陷長度(du)的(de)一(yi)半，同時將相鄰檢測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)按50％重疊布置(zhi)，如圖3-7b所(suo)示。可以看(kan)出，不論缺(que)陷從哪個路徑通過探(tan)頭(tou)(tou)陣列，均(jun)可在某一(yi)檢測(ce)單(dan)元中(zhong)獲(huo)得一(yi)個最大的(de)信號(hao)幅(fu)值(zhi)，而在其他檢測(ce)單(dan)元中(zhong)得到較小(xiao)的(de)信號(hao)幅(fu)值(zhi)。
此(ci)時，由于線狀(zhuang)缺陷長(chang)度遠大于探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)長(chang)度，檢(jian)測(ce)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)測(ce)量的(de)是漏磁場“山脈”中(zhong)的(de)某一段，如果(guo)線狀(zhuang)缺陷深(shen)(shen)度一致，它可以(yi)直接反映(ying)出深(shen)(shen)度信(xin)(xin)息。將線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)長(chang)度再不斷縮小(xiao)，線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)則(ze)變成點檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)。此(ci)時，在采用標(biao)(biao)準人工缺陷進行設備標(biao)(biao)定時，任何狀(zhuang)態均可得到一致的(de)檢(jian)測(ce)信(xin)(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測方(fang)法測量的(de)是線狀(zhuang)缺陷的(de)平均磁感(gan)應強度(du)(du)，因而，它反(fan)映(ying)不了線狀(zhuang)缺陷的(de)深(shen)度(du)(du)信息。當缺陷的(de)長度(du)(du)逐漸減小時，則轉(zhuan)變成線檢(jian)探頭對點狀(zhuang)缺陷的(de)檢(jian)測。
3. 面向對象的檢測探頭設計和選用
在(zai)漏磁檢測中(zhong)，應該根據具體(ti)的檢測要(yao)求(qiu)來設(she)(she)計和選(xuan)擇合(he)適的探頭芯結(jie)構(gou)，下(xia)面給出幾種(zhong)探頭設(she)(she)計和選(xuan)用原則。
a. 缺陷(xian)的(de)(de)深(shen)度檢(jian)測(ce)(ce)應該選擇點(dian)檢(jian)探頭 點(dian)檢(jian)探頭反映(ying)的(de)(de)是局(ju)部磁感(gan)應強度或其變化。當(dang)裂紋較長時，測(ce)(ce)點(dian)相當(dang)于對無限長矩形槽的(de)(de)探測(ce)(ce)，因而，測(ce)(ce)點(dian)的(de)(de)信號幅度與缺陷(xian)深(shen)度密切(qie)相關(guan)。但是，當(dang)線狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)越(yue)來越(yue)短時，測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)誤差也(ye)就(jiu)越(yue)來越(yue)大，特別(bie)地，對點(dian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)的(de)(de)深(shen)度探測(ce)(ce)幾乎(hu)不可能。
在鋼(gang)管漏(lou)磁檢測校樣過程中(zhong)，一(yi)般均以通(tong)孔(kong)作為(wei)標定(ding)試樣上的(de)標準缺(que)陷，這樣，大、小孔(kong)的(de)深(shen)度(du)一(yi)致，孔(kong)徑(jing)尺寸反(fan)映(ying)出缺(que)失截面積(ji)的(de)線(xian)(xian)性變化，因而，漏(lou)磁磁通(tong)量也將發生(sheng)線(xian)(xian)性變化。對(dui)于(yu)不(bu)(bu)通(tong)孔(kong)，當孔(kong)的(de)深(shen)度(du)和直徑(jing)均為(wei)變量時，僅通(tong)過尋找(zhao)孔(kong)深(shen)與(yu)孔(kong)徑(jing)的(de)乘積(ji)與(yu)信號(hao)幅度(du)關系去反(fan)演或(huo)推算(suan)深(shen)度(du)是(shi)不(bu)(bu)可能的(de)。這也是(shi)僅采用漏(lou)磁方法進行檢測的(de)不(bu)(bu)足(zu)。
b. 缺(que)陷的(de)損失(shi)截面積(ji)檢(jian)測應該選(xuan)擇線(xian)(xian)檢(jian)探頭 線(xian)(xian)檢(jian)探頭的(de)信號幅(fu)度與缺(que)陷損失(shi)的(de)截面積(ji)成(cheng)比例(li)，因而有較(jiao)好(hao)的(de)測量精度。在有些檢(jian)測對象(xiang)中應用較(jiao)好(hao)。
c. 缺陷(xian)的長(chang)(chang)(chang)度(du)檢(jian)測應(ying)該(gai)用(yong)(yong)點檢(jian)探(tan)(tan)頭陣(zhen)列(lie)或點線組合式探(tan)(tan)頭 點檢(jian)探(tan)(tan)頭敏(min)感(gan)于缺陷(xian)的深度(du)，當采用(yong)(yong)點檢(jian)探(tan)(tan)頭陣(zhen)列(lie)時，缺陷(xian)長(chang)(chang)(chang)度(du)覆(fu)蓋的通道(dao)數量可以(yi)反映(ying)其長(chang)(chang)(chang)度(du)信息；另一方面，當線檢(jian)探(tan)(tan)頭大于缺陷(xian)的長(chang)(chang)(chang)度(du)時，感(gan)應(ying)的是深度(du)和(he)長(chang)(chang)(chang)度(du)的共同信息，如在其感(gan)應(ying)范圍內并(bing)列(lie)布(bu)置(zhi)一個(ge)或多個(ge)點檢(jian)探(tan)(tan)頭感(gan)受深度(du)信息，則裂紋的長(chang)(chang)(chang)度(du)就可以(yi)計(ji)算出來。
從信號(hao)處理角度(du)來看，點(dian)線組合式探頭需要(yao)的通道數量(liang)較少，可以同時獲(huo)得缺(que)陷(xian)的深度(du)、長度(du)、缺(que)失截面積等信息，具有(you)較強的應(ying)用價(jia)值(zhi)。
d. 斜(xie)向(xiang)裂紋采用點檢(jian)(jian)(jian)(jian)探頭陣列檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce) 在(zai)漏(lou)磁檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)中，當缺(que)陷走向(xiang)與磁化場方向(xiang)不垂直時，漏(lou)磁場的(de)強度將降低，從(cong)而獲得較(jiao)小的(de)信號(hao)幅(fu)值。因此，斜(xie)向(xiang)缺(que)陷的(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)與評估(gu)，需要首(shou)先檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)出裂紋的(de)走向(xiang)，并(bing)且(qie)根據走向(xiang)修正漏(lou)磁場信號(hao)幅(fu)度，再進行深(shen)度判別。
另一(yi)方面，當探(tan)頭掃查路徑垂直于缺陷走(zou)向時(shi)，檢測信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)(fu)值最(zui)大(da)；隨著兩(liang)者夾角不斷減小，檢測信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)(fu)值逐漸降低，同時(shi)信(xin)號(hao)(hao)特(te)性也將發生(sheng)明(ming)顯變化。此時(shi)，線檢探(tan)頭的(de)(de)檢測信(xin)號(hao)(hao)特(te)性變化很大(da)，點(dian)檢探(tan)頭的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)(fu)度(du)波(bo)動卻很小。因此，可利用點(dian)檢探(tan)頭陣列(lie)中各(ge)通道獲得(de)最(zui)大(da)幅(fu)(fu)值的(de)(de)時(shi)間(jian)差異來推算缺陷走(zou)向，為后續的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)補償與缺陷判別奠定基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)磁設備的(de)(de)檢(jian)(jian)測能力與探頭(tou)芯結構密切相(xiang)關，從(cong)目(mu)前應用情況(kuang)來看，漏(lou)磁檢(jian)(jian)測方法(fa)(fa)對內外(wai)部腐蝕坑、內外(wai)部周／軸向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)均(jun)有(you)較好(hao)的(de)(de)檢(jian)(jian)測精度，同時(shi)，對斜向(xiang)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)具有(you)一(yi)定的(de)(de)檢(jian)(jian)測能力。但是，漏(lou)磁檢(jian)(jian)測方法(fa)(fa)對微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)，如初期的(de)(de)疲勞裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)、熱處理的(de)(de)應力裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)、軋制時(shi)的(de)(de)微(wei)機(ji)械裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)和(he)折疊不(bu)太敏感。究其原因(yin)，微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)(wen)(wen)的(de)(de)開(kai)口均(jun)小于0.05mm，漏(lou)磁場強度較低(di)，因(yin)此(ci)，有(you)必要輔(fu)以渦流、超(chao)聲等(deng)其他(ta)檢(jian)(jian)測方法(fa)(fa)。
我(wo)國進口漏磁(ci)檢(jian)測(ce)設備采用的(de)基本都是基于線(xian)(xian)圈的(de)線(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)，這(zhe)種配置需(xu)要的(de)信號通(tong)道數量相(xiang)對較少、探靴的(de)有效覆蓋范圍大(da)。但(dan)是，這(zhe)種方式對缺陷(xian)的(de)深度評定需(xu)要一定的(de)輔(fu)助(zhu)條件(jian)，而(er)且對斜向缺陷(xian)的(de)檢(jian)測(ce)靈敏度較低。
在(zai)具體應(ying)用過程(cheng)中(zhong)，首先(xian)應(ying)分析(xi)檢測要(yao)求和對(dui)象特(te)點(dian)，其次要(yao)認識探頭(tou)芯的形(xing)式和結構。總的來講(jiang)，采(cai)(cai)用線(xian)檢探頭(tou)去檢測線(xian)狀缺陷(xian)的深度(du)信息和采(cai)(cai)用點(dian)檢探頭(tou)去評定點(dian)狀缺陷(xian)的長(chang)度(du)信息均是不現實的；高精度(du)的檢測需要(yao)以大量(liang)的獨立(li)測量(liang)通道和信號處理系統(tong)為代價，因此，應(ying)根據檢測目標(biao)綜(zong)合權衡。
