鍛(duan)件(jian)的(de)(de)(de)質量(liang)要求(qiu)主要表現(xian)在鋼(gang)的(de)(de)(de)純凈(jing)性、均(jun)勻(yun)性和致(zhi)密(mi)性三個方面。純凈(jing)性、均(jun)勻(yun)性和致(zhi)密(mi)性的(de)(de)(de)任何不完善都會影(ying)(ying)響質量(liang)而成(cheng)為缺陷,缺陷越嚴重,對(dui)質量(liang)影(ying)(ying)響也(ye)越大,缺陷如超(chao)過(guo)限度(du)則導(dao)致(zhi)鍛(duan)件(jian)質量(liang)不能(neng)滿足(zu)技術條(tiao)件(jian)的(de)(de)(de)要求(qiu)而報廢,故道(dao)道(dao)工(gong)序均(jun)應嚴加控制。下面我們就(jiu)和江(jiang)蘇(su)容(rong)大一起(qi)看看鍛(duan)件(jian)成(cheng)分(fen)分(fen)析都是(shi)哪些方面?
1. 化學成分分析
一般化學成(cheng)分(fen)分(fen)析(xi)主要(yao)為碳、錳、硅(gui)、硫、磷及合(he)金元素的(de)含量。鍛件(jian)從相當冒(mao)口(kou)(kou)端取(qu)樣(yang),重要(yao)鍛件(jian)為了了解偏析(xi)程度需(xu)從水、冒(mao)口(kou)(kou)兩端取(qu)樣(yang),特殊件(jian)或(huo)缺(que)陷 (及失(shi)效)分(fen)析(xi),往往還需(xu)要(yao)分(fen)析(xi)氣體、夾雜物及微量雜質(zhi)元素的(de)含量,供質(zhi)量確認或(huo)研究使用(yong)。
2. 力學性能(neng)試(shi)驗
常用的力學性能(neng)試(shi)驗為硬度、拉深、沖(chong)擊(ji)和彎(wan)曲試(shi)驗。從性能(neng)數(shu)據可(ke)以(yi)發(fa)現(xian)材質存(cun)在的問題,鋼中氣(qi)泡、疏松(song)、裂紋、晶粒度及回火脆性等(deng)往往均可(ke)在力學性能(neng)試(shi)樣的斷口(kou)上反映出來。
3. 低倍檢驗
硫(liu)印(yin)、酸洗(xi)、斷口是常用(yong)的低(di)倍檢(jian)驗項目。硫(liu)印(yin)可(ke)以(yi)(yi)顯示硫(liu)在(zai)截面上的分布(bu)情況;酸洗(xi)可(ke)以(yi)(yi)顯示截面上的成分偏(pian)析、疏松、縮孔、皮下氣(qi)泡、夾雜(za)物、翻皮、白點裂紋等(deng)各種宏觀缺陷;斷口檢(jian)驗可(ke)以(yi)(yi)發現硫(liu)印(yin)、酸洗(xi)所沒(mei)能顯露出(chu)來的缺陷,是一(yi)種簡(jian)便而適用(yong)的方(fang)法。
4. 金相高倍(bei)檢驗
這(zhe)種(zhong)方法廣泛(fan)用(yong)于微(wei)觀檢(jian)查(cha),也常用(yong)于研究宏觀缺陷的(de)微(wei)觀特征。 是用(yong)光學(xue)顯微(wei)鏡(LM)在(zai)放大50至2000倍下(xia)觀察制(zhi)備(bei)好的(de)金相試樣,檢(jian)查(cha)夾雜物、金屬顯微(wei)組織及晶粒度等。
5. 無損(sun)檢測(ce)
通常用的(de)(de)(de)有(you)磁(ci)粉、熒光、著色、射(she)線、渦流和(he)(he)(he)超聲波等方法(fa)。正確(que)選擇(ze)探傷方法(fa)對鍛(duan)件(jian)表面及(ji)(ji)內(nei)部的(de)(de)(de)缺陷(xian)(xian)進(jin)行(xing)全面細(xi)致地檢(jian)(jian)查(cha),可(ke)以(yi)準確(que)地判斷存在缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de),大小、數量及(ji)(ji)分(fen)布,在鍛(duan)件(jian)的(de)(de)(de)質量檢(jian)(jian)查(cha)中(zhong),無損檢(jian)(jian)測(ce)現已成為一(yi)種極為重要(yao)的(de)(de)(de)方法(fa)之一(yi)。 通過上述(shu)的(de)(de)(de)幾種檢(jian)(jian)測(ce)方法(fa),可(ke)以(yi)發(fa)現鍛(duan)件(jian)中(zhong)的(de)(de)(de)缺陷(xian)(xian),了解其(qi)(qi)(qi)大小、數量、分(fen)布及(ji)(ji)宏觀(guan)、微(wei)(wei)(wei)觀(guan)形貌。但有(you)時只憑這(zhe)些檢(jian)(jian)驗(yan)結果還不足以(yi)判定(ding)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)性質和(he)(he)(he)明確(que)其(qi)(qi)(qi)產(chan)生原因。為了對所發(fa)現問題作進(jin)一(yi)步(bu)研究,還需對其(qi)(qi)(qi)微(wei)(wei)(wei)觀(guan)形貌作進(jin)一(yi)步(bu)觀(guan)察,對成分(fen)或第二相夾雜物類型及(ji)(ji)其(qi)(qi)(qi)組成和(he)(he)(he)含量做進(jin)一(yi)步(bu)測(ce)定(ding)。這(zhe)就(jiu)需要(yao)比較(jiao)現代的(de)(de)(de)研究手段,如掃(sao)描電(dian)子顯微(wei)(wei)(wei)鏡 (SEM)、電(dian)子探針(zhen)(WDS波譜(pu)儀及(ji)(ji)EDS能譜(pu)儀)和(he)(he)(he)俄(e)歇電(dian)子譜(pu)儀(AES)等,它們是一(yi)般檢(jian)(jian)測(ce)手段的(de)(de)(de)深(shen)化和(he)(he)(he)補充。

