工業(ye)無損探傷(shang)(shang)的(de)方法(fa)(fa)(fa)(fa)很多,目前國內(nei)外最(zui)常用的(de)探傷(shang)(shang)方法(fa)(fa)(fa)(fa)有五(wu)種,即(ji)人們常稱(cheng)的(de)五(wu)大(da)常規探傷(shang)(shang)方法(fa)(fa)(fa)(fa)。本文將(jiang)首先介紹五(wu)大(da)常規探傷(shang)(shang)方法(fa)(fa)(fa)(fa)及其(qi)特(te)點,并(bing)結(jie)合汽車維修中的(de)特(te)定條件(jian)和需求(qiu),選出更適(shi)合于汽車維修的(de)探傷(shang)(shang)方法(fa)(fa)(fa)(fa)。   


  五大常規(gui)方法是指射(she)線探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法RT、超(chao)聲波探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法UT、磁粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法MT、渦流探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法ET和(he)滲透探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法PT。   


 1. 射線探傷方法   


  射(she)(she)線(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)是利(li)用(yong)(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿透(tou)(tou)性和(he)(he)直(zhi)線(xian)(xian)性來(lai)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)方法。這些(xie)射(she)(she)線(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會像(xiang)可(ke)見(jian)光(guang)(guang)那樣憑肉眼就能直(zhi)接(jie)(jie)察知,但它可(ke)使照(zhao)相底(di)(di)片(pian)感(gan)光(guang)(guang),也可(ke)用(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)接(jie)(jie)收器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收。常用(yong)(yong)于探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)線(xian)(xian)有(you)x光(guang)(guang)和(he)(he)同位素發出(chu)的(de)(de)(de)γ射(she)(she)線(xian)(xian),分別稱為x光(guang)(guang)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)線(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)(she)線(xian)(xian)穿過(guo)(guo)(guo)(照(zhao)射(she)(she))物(wu)質(zhi)時(shi)(shi),該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)密(mi)度(du)越大,射(she)(she)線(xian)(xian)強度(du)減弱(ruo)得(de)(de)越多,即(ji)射(she)(she)線(xian)(xian)能穿透(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)強度(du)就越小(xiao)(xiao)。此時(shi)(shi),若用(yong)(yong)照(zhao)相底(di)(di)片(pian)接(jie)(jie)收,則(ze)底(di)(di)片(pian)的(de)(de)(de)感(gan)光(guang)(guang)量(liang)就小(xiao)(xiao);若用(yong)(yong)儀器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收,獲得(de)(de)的(de)(de)(de)信號就弱(ruo)。因此,用(yong)(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)待(dai)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)零部件(jian)時(shi)(shi),若其(qi)內(nei)部有(you)氣(qi)孔、夾渣等(deng)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian),射(she)(she)線(xian)(xian)穿過(guo)(guo)(guo)有(you)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑(jing)比沒(mei)有(you)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密(mi)度(du)要小(xiao)(xiao)得(de)(de)多,其(qi)強度(du)就減弱(ruo)得(de)(de)少些(xie),即(ji)透(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)強度(du)就大些(xie),若用(yong)(yong)底(di)(di)片(pian)接(jie)(jie)收,則(ze)感(gan)光(guang)(guang)量(liang)就大些(xie),就可(ke)以從底(di)(di)片(pian)上反(fan)(fan)映出(chu)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于射(she)(she)線(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)影;若用(yong)(yong)其(qi)它接(jie)(jie)收器(qi)也同樣可(ke)以用(yong)(yong)儀表來(lai)反(fan)(fan)映缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于射(she)(she)線(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平(ping)面投(tou)影和(he)(he)射(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)(tou)過(guo)(guo)(guo)量(liang)。由此可(ke)見(jian),一(yi)般情況下(xia),射(she)(she)線(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)是不(bu)(bu)易(yi)發現裂紋的(de)(de)(de),或者說,射(she)(she)線(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)對裂紋是不(bu)(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)。因此,射(she)(she)線(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)對氣(qi)孔、夾渣、未焊透(tou)(tou)等(deng)體(ti)積型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感(gan)。即(ji)射(she)(she)線(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)適宜(yi)(yi)用(yong)(yong)于體(ti)積型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang),而不(bu)(bu)適宜(yi)(yi)面積型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)。   


 2. 超聲波探(tan)傷方法(fa)   


  人(ren)們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能直(zhi)接(jie)接(jie)收(shou)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率范圍(wei)通(tong)常是20Hz到(dao)20kHz,即音(聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng))頻(pin)。頻(pin)率低于(yu)(yu)20 Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱為(wei)次聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo),高(gao)于(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱為(wei)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業上常用(yong)數(shu)兆赫茲超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)率高(gao),則傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強,又易于(yu)(yu)在固體中(zhong)傳(chuan)播(bo),并且遇到(dao)兩種不同介質形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)(jie)面(mian)時易于(yu)(yu)反(fan)射(she),這樣就(jiu)可(ke)以用(yong)它來探傷。通(tong)常用(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探頭(tou)與(yu)待探工件(jian)表面(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)觸,探頭(tou)則可(ke)有(you)效地向工件(jian)發射(she)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo),并能接(jie)收(shou)(缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian))界(jie)(jie)面(mian)反(fan)射(she)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo),同時轉換(huan)成(cheng)電信號(hao),再(zai)傳(chuan)輸給(gei)儀器(qi)進行處理(li)。根據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在介質中(zhong)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)速(su)度(常稱聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速(su))和(he)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)時間(jian),就(jiu)可(ke)知道(dao)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)越(yue)大,反(fan)射(she)面(mian)則越(yue)大,其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)能量也就(jiu)越(yue)大,故可(ke)根據反(fan)射(she)能量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小來查知各(ge)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(當量)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小。常用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探傷波(bo)(bo)(bo)形有(you)縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)波(bo)(bo)(bo)等(deng),前二者適用(yong)于(yu)(yu)探測內(nei)部缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian),后者適宜于(yu)(yu)探測表面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian),但(dan)對表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)要求高(gao)。   


3. 磁粉探傷方法   


  磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)是建立在漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原(yuan)理(li)基礎上(shang)的(de)(de)(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)方(fang)法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線(xian)穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及(ji)其制品(pin)時,在其(磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性)不(bu)連續處將(jiang)產生漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang),形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)或澆(jiao)上(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液(ye),磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸(xi)附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen),產生用(yong)(yong)肉眼(yan)能直(zhi)(zhi)接(jie)觀察的(de)(de)(de)明(ming)顯(xian)(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)。因(yin)此,可(ke)(ke)(ke)借(jie)助(zhu)于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)來顯(xian)(xian)示(shi)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及(ji)其制品(pin)的(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)情(qing)況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)法可(ke)(ke)(ke)探(tan)(tan)(tan)(tan)測露出表(biao)(biao)面(mian),用(yong)(yong)肉眼(yan)或借(jie)助(zhu)于(yu)放大(da)鏡也(ye)不(bu)能直(zhi)(zhi)接(jie)觀察到的(de)(de)(de)微(wei)小缺(que)陷(xian),也(ye)可(ke)(ke)(ke)探(tan)(tan)(tan)(tan)測未露出表(biao)(biao)面(mian),而(er)是埋藏在表(biao)(biao)面(mian)下幾毫米的(de)(de)(de)近表(biao)(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)。用(yong)(yong)這種方(fang)法雖(sui)然也(ye)能探(tan)(tan)(tan)(tan)查(cha)氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺(que)陷(xian),但對面(mian)積型缺(que)陷(xian)更(geng)靈敏(min),更(geng)適于(yu)檢(jian)查(cha)因(yin)淬火(huo)、軋制、鍛(duan)造、鑄造、焊接(jie)、電鍍(du)、磨削、疲勞(lao)等引起的(de)(de)(de)裂紋。   磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)中對缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)方(fang)法有多種,有用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)(de),也(ye)有不(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)(de)稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang),因(yin)它(ta)(ta)(ta)顯(xian)(xian)示(shi)直(zhi)(zhi)觀、操作簡(jian)單、人們樂于(yu)使用(yong)(yong),故(gu)它(ta)(ta)(ta)是最常用(yong)(yong)的(de)(de)(de)方(fang)法之一。不(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)(de),習慣上(shang)稱為漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang),它(ta)(ta)(ta)常借(jie)助(zhu)于(yu)感應線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏(min)管、霍爾元件等來反映缺(que)陷(xian),它(ta)(ta)(ta)比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)更(geng)衛生,但不(bu)如(ru)前者直(zhi)(zhi)觀。由(you)于(yu)目前磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)主(zhu)要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)來顯(xian)(xian)示(shi)缺(que)陷(xian),因(yin)此,人們有時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)直(zhi)(zhi)接(jie)稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang),其設(she)(she)備稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)(shang)設(she)(she)備。  


4. 渦流探傷方(fang)法   


  渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)是(shi)(shi)由交流(liu)電流(liu)產生(sheng)的(de)(de)交變磁(ci)場作用于待(dai)(dai)探(tan)傷(shang)的(de)(de)導電材料(liao),感應出(chu)電渦(wo)(wo)流(liu)。如果材料(liao)中(zhong)(zhong)有(you)缺(que)陷,它將干擾(rao)所產生(sheng)的(de)(de)電渦(wo)(wo)流(liu),即(ji)形成干擾(rao)信(xin)(xin)號。用渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)儀檢測出(chu)其(qi)干擾(rao)信(xin)(xin)號,就可(ke)知道缺(que)陷的(de)(de)狀況。影響渦(wo)(wo)流(liu)的(de)(de)因(yin)素(su)很多(duo)(duo),即(ji)是(shi)(shi)說渦(wo)(wo)流(liu)中(zhong)(zhong)載有(you)豐富的(de)(de)信(xin)(xin)號,這(zhe)些信(xin)(xin)號與材料(liao)的(de)(de)很多(duo)(duo)因(yin)素(su)有(you)關,如何將其(qi)中(zhong)(zhong)有(you)用的(de)(de)信(xin)(xin)號從諸多(duo)(duo)的(de)(de)信(xin)(xin)號中(zhong)(zhong)一(yi)一(yi)分離出(chu)來(lai),是(shi)(shi)目前渦(wo)(wo)流(liu)研究(jiu)工作者的(de)(de)難題,多(duo)(duo)年來(lai)已經取得(de)了一(yi)些進展,在一(yi)定(ding)條件下可(ke)解(jie)決一(yi)些問題,但還遠不能滿(man)足現場的(de)(de)要求,有(you)待(dai)(dai)于大力發(fa)展。   


  渦流探(tan)(tan)傷(shang)的顯著(zhu)特點是(shi)對導(dao)電材料就能起(qi)作用(yong),而不一定是(shi)鐵(tie)磁材料,但對鐵(tie)磁材料的效果較(jiao)差。其次(ci),待探(tan)(tan)工件表(biao)面的光潔(jie)度、平(ping)整度、邊介等對渦流探(tan)(tan)傷(shang)都有較(jiao)大影(ying)響(xiang),因(yin)此常將(jiang)渦流探(tan)(tan)傷(shang)用(yong)于(yu)形狀較(jiao)規則、表(biao)面較(jiao)光潔(jie)的銅(tong)管等非鐵(tie)磁性工件探(tan)(tan)傷(shang)。  


5. 滲透探(tan)傷方法   


  滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)毛(mao)細(xi)現象(xiang)來進行探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。對于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)光(guang)(guang)滑而(er)清潔(jie)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件,用(yong)一(yi)種帶色(se)(常(chang)為紅(hong)(hong)色(se))或帶有(you)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)很(hen)強(qiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti),涂(tu)覆于(yu)待(dai)探(tan)(tan)零部(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)。若表(biao)(biao)(biao)面(mian)有(you)肉眼(yan)不能(neng)(neng)直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)(lie)紋(wen),由于(yu)該液(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)很(hen)強(qiang),它將(jiang)沿著(zhu)裂(lie)(lie)紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到其根部(bu)。然(ran)后(hou)將(jiang)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)洗(xi)去,再(zai)涂(tu)上(shang)(shang)對比(bi)度(du)較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)(shi)液(ye)(ye)(常(chang)為白色(se))。放置片刻后(hou),由于(yu)裂(lie)(lie)紋(wen)很(hen)窄,毛(mao)細(xi)現象(xiang)作用(yong)顯(xian)著(zhu),原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到裂(lie)(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)將(jiang)上(shang)(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)(biao)面(mian)并擴(kuo)散(san),在(zai)白色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)顯(xian)出(chu)較(jiao)粗(cu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)(hong)線,從(cong)而(er)顯(xian)示(shi)(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀,因此(ci)(ci),常(chang)稱為著(zhu)色(se)探(tan)(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)采(cai)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti),由毛(mao)細(xi)現象(xiang)上(shang)(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti),則會在(zai)紫(zi)外燈照射下(xia)發出(chu)熒光(guang)(guang),從(cong)而(er)更能(neng)(neng)顯(xian)示(shi)(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀,故常(chang)常(chang)又(you)將(jiang)此(ci)(ci)時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)直接稱為熒光(guang)(guang)探(tan)(tan)傷(shang)。此(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)也可用(yong)于(yu)金屬和非金屬表(biao)(biao)(biao)面(mian)探(tan)(tan)傷(shang)。其使用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)液(ye)(ye)劑(ji)有(you)較(jiao)大氣(qi)味,常(chang)有(you)一(yi)定毒性(xing)。   


 除以上五大(da)常規(gui)方法(fa)外,近年來又有了紅(hong)外、聲發射等一些新(xin)的探(tan)傷方法(fa)。


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