工業(ye)無損探(tan)傷的方(fang)法(fa)很(hen)多，目前(qian)國內外(wai)最常用(yong)的探(tan)傷方(fang)法(fa)有(you)五(wu)種，即人們常稱(cheng)的五(wu)大常規探(tan)傷方(fang)法(fa)。本文將(jiang)首先介紹五(wu)大常規探(tan)傷方(fang)法(fa)及其特點，并結合汽車維修中的特定條件(jian)和需(xu)求，選(xuan)出更適合于(yu)汽車維修的探(tan)傷方(fang)法(fa)。
五(wu)大常規方法(fa)是(shi)指射線探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)RT、超聲波探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)UT、磁粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)MT、渦流探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)ET和滲透(tou)探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)PT。
1. 射線探傷(shang)方法
射(she)(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)利用射(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)(de)穿透(tou)(tou)(tou)性和(he)直線(xian)性來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)方法。這(zhe)些(xie)射(she)(she)(she)線(xian)雖然不(bu)會像(xiang)可見光(guang)(guang)那樣憑肉眼就能直接(jie)(jie)察知，但(dan)它(ta)可使照(zhao)相底(di)片(pian)感光(guang)(guang)，也(ye)(ye)可用特殊的(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)。常用于探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)線(xian)有(you)x光(guang)(guang)和(he)同位素(su)發出(chu)(chu)的(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)線(xian)，分別稱為x光(guang)(guang)探(tan)(tan)傷(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。當這(zhe)些(xie)射(she)(she)(she)線(xian)穿過（照(zhao)射(she)(she)(she)）物(wu)(wu)質(zhi)時，該(gai)物(wu)(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)密度(du)越(yue)大，射(she)(she)(she)線(xian)強(qiang)度(du)減(jian)弱(ruo)(ruo)得越(yue)多，即(ji)射(she)(she)(she)線(xian)能穿透(tou)(tou)(tou)過該(gai)物(wu)(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就越(yue)小(xiao)。此(ci)時，若(ruo)用照(zhao)相底(di)片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則底(di)片(pian)的(de)(de)(de)(de)感光(guang)(guang)量就小(xiao)；若(ruo)用儀器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，獲得的(de)(de)(de)(de)信號就弱(ruo)(ruo)。因(yin)此(ci)，用射(she)(she)(she)線(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)零(ling)部件時，若(ruo)其(qi)內部有(you)氣孔、夾(jia)渣等缺(que)(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)線(xian)穿過有(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑比(bi)沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑所(suo)透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)質(zhi)密度(du)要(yao)小(xiao)得多，其(qi)強(qiang)度(du)就減(jian)弱(ruo)(ruo)得少些(xie)，即(ji)透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就大些(xie)，若(ruo)用底(di)片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則感光(guang)(guang)量就大些(xie)，就可以(yi)從底(di)片(pian)上(shang)反映(ying)出(chu)(chu)缺(que)(que)陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)線(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)(mian)投(tou)影(ying)；若(ruo)用其(qi)它(ta)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)也(ye)(ye)同樣可以(yi)用儀表來(lai)反映(ying)缺(que)(que)陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)線(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)(mian)投(tou)影(ying)和(he)射(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過量。由此(ci)可見，一(yi)般(ban)情況下，射(she)(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)不(bu)易發現裂紋的(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對裂紋是(shi)不(bu)敏(min)感的(de)(de)(de)(de)。因(yin)此(ci)，射(she)(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對氣孔、夾(jia)渣、未焊透(tou)(tou)(tou)等體積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)最敏(min)感。即(ji)射(she)(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)適宜(yi)(yi)用于體積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)，而不(bu)適宜(yi)(yi)面(mian)(mian)積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。
2. 超聲(sheng)波探傷方法
人(ren)們的(de)(de)(de)耳朵(duo)能直接接收(shou)到(dao)的(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范圍(wei)通(tong)常(chang)(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于(yu)20 Hz的(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業上(shang)常(chang)(chang)用(yong)數兆赫(he)茲超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探傷(shang)。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)高，則(ze)(ze)傳(chuan)播的(de)(de)(de)直線性強，又易于(yu)在(zai)固體中(zhong)傳(chuan)播，并(bing)且(qie)遇到(dao)兩種(zhong)不同介質(zhi)形成的(de)(de)(de)界面(mian)時(shi)(shi)易于(yu)反(fan)射(she)(she)(she)，這樣就可以用(yong)它來探傷(shang)。通(tong)常(chang)(chang)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探頭(tou)與待探工件(jian)表面(mian)良好的(de)(de)(de)接觸，探頭(tou)則(ze)(ze)可有效地向(xiang)工件(jian)發射(she)(she)(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并(bing)能接收(shou)（缺(que)陷(xian)(xian)）界面(mian)反(fan)射(she)(she)(she)來的(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時(shi)(shi)轉(zhuan)換(huan)成電信(xin)號(hao)，再傳(chuan)輸給儀器進行處理。根據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介質(zhi)中(zhong)傳(chuan)播的(de)(de)(de)速(su)度（常(chang)(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速(su)）和傳(chuan)播的(de)(de)(de)時(shi)(shi)間，就可知(zhi)(zhi)道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)位(wei)置。當缺(que)陷(xian)(xian)越(yue)(yue)大(da)(da)，反(fan)射(she)(she)(she)面(mian)則(ze)(ze)越(yue)(yue)大(da)(da)，其反(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)能量也就越(yue)(yue)大(da)(da)，故(gu)可根據(ju)反(fan)射(she)(she)(she)能量的(de)(de)(de)大(da)(da)小(xiao)來查知(zhi)(zhi)各缺(que)陷(xian)(xian)（當量）的(de)(de)(de)大(da)(da)小(xiao)。常(chang)(chang)用(yong)的(de)(de)(de)探傷(shang)波(bo)(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)波(bo)(bo)(bo)等(deng)，前二者(zhe)適(shi)用(yong)于(yu)探測內部(bu)缺(que)陷(xian)(xian)，后者(zhe)適(shi)宜(yi)于(yu)探測表面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)，但對表面(mian)的(de)(de)(de)條件(jian)要求高。
3. 磁(ci)粉探(tan)傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)建立在漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原(yuan)理(li)基(ji)礎上(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)一(yi)(yi)種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)方法(fa)(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)線穿(chuan)過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)(cai)料及其制品(pin)時，在其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)(bu)連續處將產生(sheng)(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)，形成(cheng)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時撒上(shang)(shang)(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)或(huo)澆上(shang)(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會(hui)吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)，產生(sheng)(sheng)用(yong)(yong)(yong)(yong)肉眼(yan)能(neng)直(zhi)接(jie)觀(guan)察的(de)(de)(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)。因此，可借助于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)來(lai)顯(xian)示(shi)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)(cai)料及其制品(pin)的(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)可探(tan)(tan)測露出表(biao)面(mian)(mian)，用(yong)(yong)(yong)(yong)肉眼(yan)或(huo)借助于(yu)(yu)放(fang)大鏡也不(bu)(bu)能(neng)直(zhi)接(jie)觀(guan)察到的(de)(de)(de)微小缺(que)陷(xian)，也可探(tan)(tan)測未(wei)露出表(biao)面(mian)(mian)，而是(shi)埋藏在表(biao)面(mian)(mian)下幾毫米的(de)(de)(de)近表(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷(xian)。用(yong)(yong)(yong)(yong)這(zhe)種(zhong)方法(fa)(fa)雖然也能(neng)探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未(wei)焊透等(deng)體積(ji)(ji)型缺(que)陷(xian)，但對面(mian)(mian)積(ji)(ji)型缺(que)陷(xian)更(geng)靈敏，更(geng)適于(yu)(yu)檢查因淬火(huo)、軋制、鍛造、鑄造、焊接(jie)、電鍍、磨削、疲勞等(deng)引(yin)起的(de)(de)(de)裂紋。 磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)中(zhong)對缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)方法(fa)(fa)有多種(zhong)，有用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)，也有不(bu)(bu)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)。用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，因它(ta)顯(xian)示(shi)直(zhi)觀(guan)、操作(zuo)簡(jian)單、人(ren)們(men)(men)樂于(yu)(yu)使用(yong)(yong)(yong)(yong)，故它(ta)是(shi)最(zui)常用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)方法(fa)(fa)之一(yi)(yi)。不(bu)(bu)用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)，習慣上(shang)(shang)(shang)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，它(ta)常借助于(yu)(yu)感應(ying)線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元件等(deng)來(lai)反(fan)映(ying)缺(que)陷(xian)，它(ta)比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)更(geng)衛生(sheng)(sheng)，但不(bu)(bu)如前者直(zhi)觀(guan)。由于(yu)(yu)目(mu)前磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)主要用(yong)(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯(xian)示(shi)缺(que)陷(xian)，因此，人(ren)們(men)(men)有時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)直(zhi)接(jie)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，其設(she)備(bei)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)設(she)備(bei)。
4. 渦流探(tan)傷方法
渦流(liu)(liu)探(tan)傷是(shi)由交流(liu)(liu)電流(liu)(liu)產生的(de)交變磁(ci)場作用于待探(tan)傷的(de)導電材料(liao)(liao)，感應出電渦流(liu)(liu)。如(ru)果材料(liao)(liao)中有(you)(you)(you)(you)缺陷，它將(jiang)干(gan)擾(rao)所產生的(de)電渦流(liu)(liu)，即(ji)形成干(gan)擾(rao)信號(hao)。用渦流(liu)(liu)探(tan)傷儀檢測出其干(gan)擾(rao)信號(hao)，就可(ke)知道缺陷的(de)狀(zhuang)況。影響渦流(liu)(liu)的(de)因素(su)很多(duo)(duo)，即(ji)是(shi)說(shuo)渦流(liu)(liu)中載(zai)有(you)(you)(you)(you)豐富的(de)信號(hao)，這些信號(hao)與材料(liao)(liao)的(de)很多(duo)(duo)因素(su)有(you)(you)(you)(you)關，如(ru)何將(jiang)其中有(you)(you)(you)(you)用的(de)信號(hao)從諸多(duo)(duo)的(de)信號(hao)中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分(fen)離(li)出來(lai)，是(shi)目前渦流(liu)(liu)研究工(gong)作者的(de)難題，多(duo)(duo)年來(lai)已經取得了一(yi)(yi)些進展，在一(yi)(yi)定條(tiao)件下可(ke)解決一(yi)(yi)些問題，但還遠不能滿足(zu)現(xian)場的(de)要求(qiu)，有(you)(you)(you)(you)待于大力(li)發展。
渦流(liu)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)顯(xian)著特(te)點(dian)是對(dui)導電材(cai)料(liao)(liao)就能起(qi)作用(yong)，而不一(yi)定(ding)是鐵磁(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)，但(dan)對(dui)鐵磁(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)效果較差(cha)。其(qi)次，待探(tan)工件表面的(de)(de)光(guang)潔度(du)、平整度(du)、邊介等(deng)對(dui)渦流(liu)探(tan)傷(shang)(shang)都(dou)有(you)較大影響，因此常將渦流(liu)探(tan)傷(shang)(shang)用(yong)于形狀較規則、表面較光(guang)潔的(de)(de)銅(tong)管等(deng)非(fei)鐵磁(ci)(ci)性(xing)工件探(tan)傷(shang)(shang)。
5. 滲透探傷方法
滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用(yong)(yong)毛(mao)細(xi)現象(xiang)來進行探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法。對于表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)光(guang)(guang)滑(hua)而清潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)(ling)部(bu)件，用(yong)(yong)一種帶色(se)（常(chang)(chang)為(wei)紅色(se)）或(huo)帶有熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性很(hen)強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，涂覆(fu)于待探(tan)(tan)零(ling)(ling)部(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)有肉眼不能直接(jie)察知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)(lie)紋，由于該(gai)液(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性很(hen)強，它將沿著(zhu)裂(lie)(lie)紋滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到其根部(bu)。然(ran)后(hou)將表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上(shang)對比度較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯示(shi)液(ye)（常(chang)(chang)為(wei)白色(se)）。放置片刻后(hou)，由于裂(lie)(lie)紋很(hen)窄(zhai)，毛(mao)細(xi)現象(xiang)作用(yong)(yong)顯著(zhu)，原(yuan)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到裂(lie)(lie)紋內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)將上(shang)升到表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在(zai)白色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯出(chu)較(jiao)粗(cu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從(cong)而顯示(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋露(lu)于表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀，因此(ci)，常(chang)(chang)稱(cheng)為(wei)著(zhu)色(se)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。若(ruo)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，由毛(mao)細(xi)現象(xiang)上(shang)升到表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，則會(hui)在(zai)紫外燈照(zhao)射(she)下發出(chu)熒(ying)光(guang)(guang)，從(cong)而更能顯示(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋露(lu)于表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀，故(gu)常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將此(ci)時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)直接(jie)稱(cheng)為(wei)熒(ying)光(guang)(guang)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。此(ci)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)方(fang)法也可用(yong)(yong)于金(jin)屬和非(fei)金(jin)屬表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。其使(shi)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)液(ye)劑有較(jiao)大(da)氣味(wei)，常(chang)(chang)有一定毒性。
除以(yi)上五(wu)大常規方法外，近年來(lai)又有了紅外、聲發射等一些新的探傷方法。
浙江至德鋼業有限公司專業生產不銹鋼管及管道連接配件廠家，倉庫常備不銹鋼管庫存1000余噸及部分不銹鋼法蘭管件（彎頭|三通|大小頭）現貨，常用規格可當天發貨。另可提供各種不銹鋼管切割、拋光、折彎、鉆孔、焊接、車床加工及管道預制件加工等配套服務。
