什(shen)么是無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)？ 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)是指在(zai)不(bu)損(sun)(sun)害(hai)(hai)或(huo)不(bu)影響被檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)對(dui)(dui)象使用(yong)性(xing)(xing)能、不(bu)傷害(hai)(hai)被檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)對(dui)(dui)象內部(bu)組織的(de)前提(ti)下，利用(yong)材料內部(bu)結構存在(zai)異常或(huo)缺陷而引(yin)起的(de)熱(re)、聲、光、電、磁等反應變化(hua)(hua)，以物理或(huo)化(hua)(hua)學(xue)方法為手段，借助現代化(hua)(hua)的(de)技術和(he)設(she)備器(qi)材，對(dui)(dui)試件(jian)(jian)內部(bu)及表面的(de)結構、性(xing)(xing)質(zhi)、狀(zhuang)態及缺陷的(de)類型、性(xing)(xing)質(zhi)、數量、形(xing)狀(zhuang)、位置、尺寸、分布及其變化(hua)(hua)進行檢(jian)(jian)(jian)(jian)查和(he)測(ce)(ce)試的(de)方法。 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)優(you)點(dian) 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)具(ju)有非(fei)破壞性(xing)(xing)、互容(rong)性(xing)(xing)、動態性(xing)(xing)等優(you)點(dian)而得(de)到(dao)公眾的(de)廣泛認可(ke)，也在(zai)一定程度上(shang)反映了一個國家的(de)工業(ye)發展(zhan)(zhan)水(shui)平，是工業(ye)發展(zhan)(zhan)必不(bu)可(ke)少的(de)有效(xiao)工具(ju)。 非(fei)破壞性(xing)(xing) 非(fei)破壞性(xing)(xing)是指在(zai)獲得(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)結果的(de)同時，除(chu)了剔除(chu)不(bu)合格品外，不(bu)損(sun)(sun)失零件(jian)(jian)。因此，檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)規(gui)模不(bu)受零件(jian)(jian)多少的(de)限制，既可(ke)抽(chou)樣檢(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)，又可(ke)在(zai)必要時采用(yong)普檢(jian)(jian)(jian)(jian)。

  互容(rong)性(xing)(xing)即指檢(jian)(jian)驗(yan)方(fang)(fang)(fang)法的(de)互容(rong)性(xing)(xing)，即同一零(ling)(ling)件可(ke)(ke)同時或依次采(cai)用不同的(de)檢(jian)(jian)驗(yan)方(fang)(fang)(fang)法，而(er)且(qie)又可(ke)(ke)重復地進行(xing)同一檢(jian)(jian)驗(yan)。當然，這也(ye)是非破壞性(xing)(xing)帶來的(de)好處。 動(dong)態性(xing)(xing) 動(dong)態性(xing)(xing)是指無損(sun)探傷方(fang)(fang)(fang)法可(ke)(ke)對使用中的(de)零(ling)(ling)件進行(xing)檢(jian)(jian)驗(yan)，而(er)且(qie)能夠適(shi)時考察產品運行(xing)期的(de)累計(ji)影(ying)響，可(ke)(ke)查明結構的(de)失效機理(li)。 無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)方(fang)(fang)(fang)法 無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)方(fang)(fang)(fang)法很多，據美國國家宇航局調研分析可(ke)(ke)分為六大類約70余種。但(dan)在實際應用中，比較(jiao)常(chang)見的(de)有目(mu)視(shi)檢(jian)(jian)測(ce)(VT)、射線照(zhao)相法(RT)、超(chao)聲波檢(jian)(jian)測(ce)(UT)、磁粉檢(jian)(jian)測(ce)(MT)、滲透檢(jian)(jian)測(ce)(PT)、渦流檢(jian)(jian)測(ce)(ECT)、聲發射(AE)、超(chao)聲波衍射時差法(TOFD)等。