無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)就(jiu)是利用聲、光、磁和(he)電等特性(xing)，在(zai)不損(sun)害(hai)或(huo)不影響被(bei)檢(jian)(jian)對象(xiang)使用性(xing)能的(de)前(qian)提下，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)被(bei)檢(jian)(jian)對象(xiang)中是否(fou)存在(zai)缺陷或(huo)不均勻性(xing)，給出缺陷的(de)大(da)小、位(wei)置、性(xing)質(zhi)和(he)數量等信息，進而判定被(bei)檢(jian)(jian)對象(xiang)所處技術狀態(如合(he)格與否(fou)、剩余壽命等)的(de)所有技術手段(duan)的(de)總稱(cheng)。常(chang)用的(de)無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法(fa)：超聲檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(MT)、液體滲透檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(PT)及X射線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(RT)。       


  超聲波檢測(ce)已經單獨詳細的介紹過了，下面(mian)就簡單地(di)對剩下的三(san)個進行介紹和(he)對比。       


 首先(xian)來了解一下，磁(ci)粉(fen)(fen)檢測(ce)的原理。鐵磁(ci)性(xing)材料和工件被(bei)磁(ci)化后(hou)，由于不(bu)(bu)連續(xu)性(xing)的存(cun)在(zai)，工件表面和近表面的磁(ci)力(li)線發生局部(bu)畸變，而(er)產生漏磁(ci)場，吸附施加在(zai)工件表面的磁(ci)粉(fen)(fen)，形(xing)成在(zai)合(he)適光照下目視可見的磁(ci)痕，從(cong)而(er)顯(xian)示出不(bu)(bu)連續(xu)性(xing)的位置(zhi)、形(xing)狀和大小。       


 磁(ci)粉檢(jian)測的適(shi)用性(xing)(xing)和局(ju)限性(xing)(xing)有：


 1. 磁粉探傷適用于檢(jian)測(ce)鐵磁性材料表(biao)面和近表(biao)面尺(chi)寸很小、間(jian)隙極窄目視難(nan)以(yi)看出的不連續性。       


 2. 磁粉檢測(ce)可對多種情況(kuang)下(xia)的零部件檢測(ce)，還可多種型件進行檢測(ce)。       


 3. 可發現裂紋(wen)(wen)、夾雜(za)、發紋(wen)(wen)、白點、折(zhe)疊、冷(leng)隔和(he)疏松等缺陷。       


 4. 磁(ci)粉檢測(ce)(ce)不能檢測(ce)(ce)奧氏(shi)體不銹鋼材(cai)料和(he)用(yong)奧氏(shi)體不銹鋼焊條焊接(jie)的焊縫，也不能檢測(ce)(ce)銅鋁鎂(mei)鈦等非磁(ci)性材(cai)料。對于表(biao)面(mian)淺劃傷、埋(mai)藏較深洞和(he)與工件表(biao)面(mian)夾(jia)角小于20°的分層和(he)折疊很難發(fa)現。


  液體(ti)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)檢測(ce)的(de)(de)基本原(yuan)理，零件表面(mian)被施涂(tu)含有(you)熒(ying)光(guang)(guang)染料或(huo)(huo)著色染料后，在(zai)(zai)一(yi)段時間的(de)(de)毛細(xi)(xi)管作(zuo)用下(xia)(xia)，滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)液可以滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)進表面(mian)開口缺陷(xian)(xian)中(zhong)；經去除零件表面(mian)多余的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)液后，再在(zai)(zai)零件表面(mian)施涂(tu)顯像劑(ji)，同樣(yang)，在(zai)(zai)毛細(xi)(xi)管的(de)(de)作(zuo)用下(xia)(xia)，顯像劑(ji)將(jiang)吸引缺陷(xian)(xian)中(zhong)保留的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)液，滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)液回滲(shen)(shen)(shen)(shen)到(dao)顯像劑(ji)中(zhong)，在(zai)(zai)一(yi)定(ding)的(de)(de)光(guang)(guang)源下(xia)(xia)(紫外(wai)線光(guang)(guang)或(huo)(huo)白光(guang)(guang))，缺陷(xian)(xian)處的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)液痕(hen)跡被現實，(黃綠色熒(ying)光(guang)(guang)或(huo)(huo)鮮艷紅(hong)色)，從而探測(ce)出缺陷(xian)(xian)的(de)(de)形貌及分布狀(zhuang)態(tai)。        


 滲透檢(jian)測的(de)優點：1. 可檢測各種材料； 2. 具有較高的靈(ling)敏度；3. 顯示直(zhi)觀(guan)、操(cao)作方便、檢測費用(yong)低(di)。       


 滲透檢測(ce)的缺(que)點(dian)：1. 不適于(yu)檢(jian)查(cha)多孔性疏松材(cai)料制成的(de)(de)工件和表面粗糙的(de)(de)工件；2. 滲透檢(jian)測(ce)只(zhi)能檢(jian)出缺陷的(de)(de)表面分布，難以確定缺陷的(de)(de)實際(ji)深度，因(yin)而很難對缺陷做出定量評價。檢(jian)出結果受(shou)操作者的(de)(de)影響也較大。       


 最后一種(zhong)，射線檢測，是(shi)因為 X射線穿過被照射物(wu)(wu)體(ti)后會有損耗，不(bu)同(tong)厚(hou)度(du)不(bu)同(tong)物(wu)(wu)質對它們的(de)(de)吸(xi)收率不(bu)同(tong)，而底片放在被照射物(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)另一側(ce)，會因為射線強(qiang)度(du)不(bu)同(tong)而產生相應的(de)(de)圖形(xing),評片人員就可以根據(ju)影像來判斷物(wu)(wu)體(ti)內(nei)部的(de)(de)是(shi)否有缺(que)陷以及缺(que)陷的(de)(de)性質。 


 射線(xian)檢(jian)測的適用性(xing)和局限性(xing)：   1. 對(dui)檢(jian)測體積型的缺(que)陷(xian)(xian)比較(jiao)(jiao)敏感，比較(jiao)(jiao)容(rong)易對(dui)缺(que)陷(xian)(xian)進行定性(xing)。 2. 射線(xian)底(di)(di)片易于保(bao)留，有(you)追(zhui)溯(su)性(xing)。3. 直觀顯示缺(que)陷(xian)(xian)的形狀和類型。  4. 缺(que)點不能定位(wei)缺(que)陷(xian)(xian)的埋藏深度，同時檢(jian)測厚度有(you)限，底(di)(di)片需(xu)專門(men)送洗，并且對(dui)人(ren)身(shen)體有(you)一定害，成本(ben)較(jiao)(jiao)高。     


  總而言(yan)之，超聲波、X射(she)線探(tan)傷(shang)適(shi)(shi)用于(yu)(yu)探(tan)傷(shang)內部(bu)缺陷；其中(zhong)超聲波適(shi)(shi)用于(yu)(yu)5mm以上(shang)，且(qie)形狀規則的部(bu)件，X射(she)線不能(neng)定位缺陷的埋(mai)藏深度，有輻(fu)射(she)。 磁(ci)粉、滲透探(tan)傷(shang)適(shi)(shi)用于(yu)(yu)探(tan)傷(shang)部(bu)件表(biao)(biao)面(mian)缺陷；其中(zhong)磁(ci)粉探(tan)傷(shang)僅限于(yu)(yu)檢測磁(ci)性材料，滲透探(tan)傷(shang)僅限于(yu)(yu)檢測表(biao)(biao)面(mian)開口缺陷。