無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)就是利用(yong)聲、光、磁(ci)和電等特(te)性(xing),在不損(sun)害或不影響被檢(jian)(jian)(jian)對(dui)(dui)象(xiang)使用(yong)性(xing)能的(de)前提(ti)下,檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)被檢(jian)(jian)(jian)對(dui)(dui)象(xiang)中(zhong)是否存在缺(que)陷或不均勻(yun)性(xing),給出缺(que)陷的(de)大小、位(wei)置(zhi)、性(xing)質(zhi)和數(shu)量等信息,進而判定被檢(jian)(jian)(jian)對(dui)(dui)象(xiang)所處技術狀態(如合格與否、剩余壽命等)的(de)所有技術手段的(de)總稱(cheng)。常用(yong)的(de)無(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)方(fang)法:超聲檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(UT)、磁(ci)粉(fen)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(MT)、液體滲透檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(PT)及X射線檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(RT)。
超聲波檢(jian)測(ce)已經(jing)單獨詳細的介紹過了,下面就簡(jian)單地對剩(sheng)下的三個進行介紹和對比。
首先來了(le)解一下,磁(ci)(ci)粉檢(jian)測的(de)(de)(de)(de)原理。鐵磁(ci)(ci)性(xing)材料和(he)工件被磁(ci)(ci)化后,由于不(bu)連續(xu)性(xing)的(de)(de)(de)(de)存在,工件表面(mian)和(he)近表面(mian)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)力(li)線發生局部畸(ji)變,而產生漏磁(ci)(ci)場,吸附施加(jia)在工件表面(mian)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)粉,形成在合適光照下目視可見的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)痕,從而顯示出不(bu)連續(xu)性(xing)的(de)(de)(de)(de)位置、形狀和(he)大小(xiao)。
磁粉檢測的適用性(xing)和(he)局(ju)限性(xing)有:
1. 磁粉探傷適用于檢測鐵磁性材料表(biao)面和(he)近表(biao)面尺寸很小、間隙極窄(zhai)目視難以看出的不連續性。
2. 磁粉檢(jian)測可(ke)對多(duo)種(zhong)情(qing)況(kuang)下的(de)零部件檢(jian)測,還可(ke)多(duo)種(zhong)型件進行(xing)檢(jian)測。
3. 可發現裂紋、夾雜、發紋、白點、折疊、冷隔和疏松(song)等缺陷。
4. 磁粉檢(jian)測(ce)不(bu)(bu)能檢(jian)測(ce)奧氏(shi)體不(bu)(bu)銹(xiu)鋼材(cai)料和用奧氏(shi)體不(bu)(bu)銹(xiu)鋼焊條焊接的焊縫,也不(bu)(bu)能檢(jian)測(ce)銅鋁鎂(mei)鈦等(deng)非(fei)磁性材(cai)料。對于(yu)表面淺劃傷、埋(mai)藏較(jiao)深(shen)洞和與(yu)工件表面夾角小于(yu)20°的分層和折疊很難發現。
液體滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)檢測的(de)基本(ben)原理,零件(jian)(jian)表(biao)面(mian)被施(shi)涂含有熒(ying)光(guang)(guang)染料或著色(se)(se)染料后,在一(yi)段時間的(de)毛細管作用(yong)下,滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液可以滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)進表(biao)面(mian)開口(kou)缺(que)陷(xian)中;經(jing)去除(chu)零件(jian)(jian)表(biao)面(mian)多余的(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液后,再在零件(jian)(jian)表(biao)面(mian)施(shi)涂顯像(xiang)(xiang)劑(ji),同樣(yang),在毛細管的(de)作用(yong)下,顯像(xiang)(xiang)劑(ji)將吸引缺(que)陷(xian)中保(bao)留的(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液,滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液回滲(shen)(shen)到顯像(xiang)(xiang)劑(ji)中,在一(yi)定的(de)光(guang)(guang)源下(紫外線(xian)光(guang)(guang)或白光(guang)(guang)),缺(que)陷(xian)處的(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液痕跡被現實(shi),(黃(huang)綠色(se)(se)熒(ying)光(guang)(guang)或鮮艷紅(hong)色(se)(se)),從而探測出缺(que)陷(xian)的(de)形(xing)貌及分布狀(zhuang)態。
滲透檢測的優點:1. 可檢(jian)測各種材料; 2. 具有較高(gao)的靈(ling)敏度;3. 顯示直(zhi)觀、操作方便、檢(jian)測費用低(di)。
滲透檢測的缺點:1. 不適于檢查多孔性疏松材料制成(cheng)的(de)(de)(de)工件(jian)和表面粗糙的(de)(de)(de)工件(jian);2. 滲透檢測只(zhi)能檢出缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)表面分布,難以確定缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)實際深(shen)度,因而(er)很難對缺陷(xian)(xian)做(zuo)出定量(liang)評價。檢出結果受操作者的(de)(de)(de)影響也(ye)較(jiao)大。
最后一種,射線(xian)檢測,是因為 X射線(xian)穿過被照射物(wu)(wu)體(ti)后會(hui)有(you)損(sun)耗(hao),不(bu)同(tong)厚度(du)不(bu)同(tong)物(wu)(wu)質對它們的(de)(de)吸收率不(bu)同(tong),而(er)底(di)片放在被照射物(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)另一側,會(hui)因為射線(xian)強度(du)不(bu)同(tong)而(er)產生相應(ying)的(de)(de)圖形,評片人員就(jiu)可以根據影像來判斷物(wu)(wu)體(ti)內部(bu)的(de)(de)是否有(you)缺(que)陷(xian)以及缺(que)陷(xian)的(de)(de)性(xing)質。
射線檢測的(de)(de)適用性(xing)和局(ju)限(xian)性(xing): 1. 對(dui)(dui)檢測體(ti)積型的(de)(de)缺陷(xian)(xian)比較敏(min)感,比較容易(yi)對(dui)(dui)缺陷(xian)(xian)進行定性(xing)。 2. 射線底(di)片易(yi)于保留,有(you)追(zhui)溯(su)性(xing)。3. 直觀顯示缺陷(xian)(xian)的(de)(de)形狀(zhuang)和類(lei)型。 4. 缺點不能定位缺陷(xian)(xian)的(de)(de)埋藏深度,同時檢測厚度有(you)限(xian),底(di)片需專門送洗(xi),并且對(dui)(dui)人身體(ti)有(you)一(yi)定害,成本較高(gao)。
總(zong)而言之,超(chao)聲(sheng)波、X射線(xian)探(tan)傷(shang)適用于(yu)探(tan)傷(shang)內部缺陷(xian)(xian);其(qi)中超(chao)聲(sheng)波適用于(yu)5mm以上,且形狀(zhuang)規(gui)則(ze)的部件,X射線(xian)不能定位缺陷(xian)(xian)的埋藏深度,有(you)輻射。 磁(ci)粉、滲透(tou)探(tan)傷(shang)適用于(yu)探(tan)傷(shang)部件表(biao)面缺陷(xian)(xian);其(qi)中磁(ci)粉探(tan)傷(shang)僅限(xian)于(yu)檢測磁(ci)性材料,滲透(tou)探(tan)傷(shang)僅限(xian)于(yu)檢測表(biao)面開口缺陷(xian)(xian)。