無(wu)損(sun)(sun)檢測就是(shi)利用(yong)聲(sheng)、光、磁和電等(deng)特(te)性(xing)，在(zai)不(bu)損(sun)(sun)害或不(bu)影(ying)響被(bei)檢對(dui)象使(shi)用(yong)性(xing)能的(de)(de)(de)前(qian)提下，檢測被(bei)檢對(dui)象中是(shi)否(fou)存在(zai)缺(que)陷或不(bu)均勻性(xing)，給出缺(que)陷的(de)(de)(de)大小、位置、性(xing)質和數量等(deng)信(xin)息，進而判定(ding)被(bei)檢對(dui)象所(suo)處技術狀態(如合格(ge)與否(fou)、剩余壽命等(deng))的(de)(de)(de)所(suo)有技術手(shou)段(duan)的(de)(de)(de)總稱。常用(yong)的(de)(de)(de)無(wu)損(sun)(sun)檢測方法：超聲(sheng)檢測(UT)、磁粉檢測(MT)、液體滲透(tou)檢測(PT)及X射線檢測(RT)。       


  超聲(sheng)波檢測已經單獨(du)詳細的介(jie)紹(shao)過了，下面就簡單地對剩下的三個進行介(jie)紹(shao)和對比。       


 首先來了解(jie)一(yi)下(xia)，磁(ci)(ci)(ci)粉檢測的(de)原(yuan)理。鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)性(xing)材料和(he)工(gong)件(jian)被(bei)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)后，由(you)于不連續(xu)性(xing)的(de)存在(zai)(zai)(zai)，工(gong)件(jian)表(biao)面和(he)近表(biao)面的(de)磁(ci)(ci)(ci)力線發生(sheng)局部畸變(bian)，而產生(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)場，吸附施加在(zai)(zai)(zai)工(gong)件(jian)表(biao)面的(de)磁(ci)(ci)(ci)粉，形成在(zai)(zai)(zai)合適光照下(xia)目視可見的(de)磁(ci)(ci)(ci)痕，從而顯示出不連續(xu)性(xing)的(de)位(wei)置、形狀和(he)大小。       


 磁(ci)粉檢測的(de)適(shi)用性(xing)和局(ju)限性(xing)有：


 1. 磁粉探傷適用于檢測鐵磁性材料表(biao)面(mian)和(he)近(jin)表(biao)面(mian)尺寸很小、間隙極窄目視(shi)難以看出的不連續性。       


 2. 磁粉檢(jian)測可對多種情況(kuang)下的零部件(jian)檢(jian)測，還可多種型件(jian)進行檢(jian)測。       


 3. 可發現裂紋、夾(jia)雜、發紋、白點、折(zhe)疊、冷(leng)隔和疏松等缺陷(xian)。       


 4. 磁(ci)粉檢(jian)測不能(neng)檢(jian)測奧氏(shi)體不銹(xiu)鋼(gang)材料和(he)(he)用(yong)奧氏(shi)體不銹(xiu)鋼(gang)焊條焊接的焊縫，也不能(neng)檢(jian)測銅鋁鎂鈦等非磁(ci)性材料。對于表面淺劃傷(shang)、埋藏較深洞(dong)和(he)(he)與(yu)工件表面夾角小于20°的分層和(he)(he)折疊很難發現。


  液(ye)(ye)體滲(shen)(shen)(shen)透檢(jian)測的(de)基本原(yuan)理，零(ling)件(jian)表(biao)面被施(shi)涂含有熒光(guang)(guang)(guang)染(ran)料或著色(se)(se)染(ran)料后(hou)，在(zai)一(yi)段時間的(de)毛細(xi)管作用下(xia)，滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)可以滲(shen)(shen)(shen)透進表(biao)面開口(kou)缺陷中；經(jing)去除(chu)零(ling)件(jian)表(biao)面多(duo)余的(de)滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)后(hou)，再(zai)在(zai)零(ling)件(jian)表(biao)面施(shi)涂顯(xian)像劑，同樣(yang)，在(zai)毛細(xi)管的(de)作用下(xia)，顯(xian)像劑將吸引缺陷中保(bao)留的(de)滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)，滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)回滲(shen)(shen)(shen)到顯(xian)像劑中，在(zai)一(yi)定的(de)光(guang)(guang)(guang)源下(xia)(紫外線光(guang)(guang)(guang)或白光(guang)(guang)(guang))，缺陷處的(de)滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)痕跡被現實，(黃綠色(se)(se)熒光(guang)(guang)(guang)或鮮艷紅色(se)(se))，從而(er)探測出缺陷的(de)形貌及分(fen)布狀態。        


 滲(shen)透檢測的優點：1. 可檢測(ce)各(ge)種材料； 2. 具有較高的(de)靈(ling)敏(min)度(du)；3. 顯示直觀、操作方便、檢測(ce)費用(yong)低(di)。       


 滲透檢(jian)測(ce)的(de)缺(que)點：1. 不適于檢查多孔性疏松材(cai)料(liao)制成的(de)(de)(de)工件(jian)(jian)和表面粗(cu)糙的(de)(de)(de)工件(jian)(jian)；2. 滲(shen)透檢測只能檢出(chu)缺陷的(de)(de)(de)表面分布，難以確定缺陷的(de)(de)(de)實(shi)際深度(du)，因而很難對缺陷做出(chu)定量評價。檢出(chu)結(jie)果受操作(zuo)者的(de)(de)(de)影(ying)響也較大。       


 最(zui)后一(yi)(yi)種，射(she)(she)線(xian)檢測，是(shi)因(yin)為 X射(she)(she)線(xian)穿過被照射(she)(she)物(wu)體(ti)后會有(you)損(sun)耗，不同厚度不同物(wu)質對它們的(de)(de)吸收率不同，而(er)底片放(fang)在被照射(she)(she)物(wu)體(ti)的(de)(de)另一(yi)(yi)側，會因(yin)為射(she)(she)線(xian)強度不同而(er)產生(sheng)相(xiang)應的(de)(de)圖(tu)形,評片人員就可以根據影像來判斷(duan)物(wu)體(ti)內部(bu)的(de)(de)是(shi)否有(you)缺陷以及缺陷的(de)(de)性(xing)質。 


 射線(xian)(xian)檢測(ce)的(de)適用(yong)性和局限(xian)性：   1. 對(dui)(dui)檢測(ce)體(ti)積(ji)型的(de)缺(que)陷(xian)比較敏感，比較容易(yi)對(dui)(dui)缺(que)陷(xian)進行(xing)定性。 2. 射線(xian)(xian)底片易(yi)于保留，有追溯性。3. 直觀顯示缺(que)陷(xian)的(de)形狀和類型。  4. 缺(que)點不能定位缺(que)陷(xian)的(de)埋藏深度，同時檢測(ce)厚度有限(xian)，底片需專門送洗(xi)，并且對(dui)(dui)人身體(ti)有一定害(hai)，成本較高。     


  總而言(yan)之(zhi)，超聲波、X射(she)線探(tan)傷適(shi)用(yong)于(yu)(yu)探(tan)傷內部缺(que)陷(xian)；其中超聲波適(shi)用(yong)于(yu)(yu)5mm以上，且形(xing)狀規則(ze)的部件，X射(she)線不能(neng)定位(wei)缺(que)陷(xian)的埋藏(zang)深(shen)度，有輻射(she)。 磁粉、滲(shen)透(tou)探(tan)傷適(shi)用(yong)于(yu)(yu)探(tan)傷部件表(biao)面缺(que)陷(xian)；其中磁粉探(tan)傷僅限于(yu)(yu)檢(jian)測磁性材料，滲(shen)透(tou)探(tan)傷僅限于(yu)(yu)檢(jian)測表(biao)面開口缺(que)陷(xian)。